C12562型光學納米膜厚測量系統是一款小型緊湊、節省空間、安裝方便的非接觸式薄膜厚測量系統。在半導體工業中，硅通孔技術的普及使得硅厚度測量變得必不可少；在薄膜生產工業中，越來越高的產品需求使得粘合層薄膜的制作朝著越來越薄的方向發展。因此，這些工業領域需要更高精度、測量范圍可以覆蓋1μm到300μm的厚度測量系統。C12562可以對厚度范圍從0.5μm到300μm的薄膜進行精確測量，包括薄膜鍍層厚度和薄膜襯底厚度以及總厚度。C12562可以進行高達100 Hz的快速測量，因此非常適合高速生產線測量。