粉體的定義

??粉體是由無(wú)數(shù)相對(duì)較小的顆粒狀物質(zhì)構(gòu)成的集合體，有時(shí)具有固體的性質(zhì)，在某些情況下又具有液體或氣體的性質(zhì)，有時(shí)還表現(xiàn)出一些奇異的特性。粉體的共同特征是：具有許多不連續(xù)的面、比表面積較大、由許多小顆粒狀物質(zhì)所組成，換言之，它們是許許多多小顆粒狀物質(zhì)的集合體。

??粉體可分為單分散粉體和多分散粉體。如果構(gòu)成粉體的所有顆粒的大小和形狀均相同，則稱(chēng)這種粉體為單分散粉體。在自然界中，單分散粉體尤其是超微的單分散粉體極為罕見(jiàn)；目前只有用化學(xué)合成方法可以制備出近似的單分散粉體，尚無(wú)利用機(jī)械方法制備單分散粉體的報(bào)導(dǎo)。大多數(shù)粉體都是由大小不同、形狀各異的顆粒所組成，這種粉體稱(chēng)為多分散粉體。

??粉體的尺度

??關(guān)于粉體的尺度，有人認(rèn)為：小于1000μm的顆粒物為粉體，也有人以100μm為界，但迄今為止并未形成共識(shí)。按照Allen和Heywood等人的觀點(diǎn)：粉體沒(méi)有確切的上限尺寸，但其尺寸相對(duì)于周?chē)目臻g而言應(yīng)足夠的小。粉體是一個(gè)由多尺寸顆粒組成的集合體，只要這個(gè)集合體具備了粉體所具有的性質(zhì)，其尺寸界限并不那么重要，所以，盡管沒(méi)有確切的上限尺寸，但并不影響人們對(duì)其性質(zhì)的研究。

??粉體的形態(tài)

??就粉體的形態(tài)而言，一般可以說(shuō)它既具有固體的性質(zhì)也具有液體的性質(zhì)，有時(shí)也具有氣體的性質(zhì)。說(shuō)它是固體顆粒，這*容易理解，因?yàn)闊o(wú)論顆粒多么小，畢竟具有一定的體積和形狀。說(shuō)它具有液體的性質(zhì)，需要具備一定的條件：即粉體和某種流體形成一個(gè)兩相體系，此時(shí)的兩相流具有液體的性質(zhì)，亦即此兩相流雖具有一定的體積，但其形狀卻取決于容器或管道的形狀，譬如自然界中的泥石流。如果兩相流中的流體是氣體，且其中的粉體體積分?jǐn)?shù)相對(duì)較小、顆粒尺寸也比較小，即粉體彌散于氣體介質(zhì)中，此時(shí)粉體就具有氣體的性質(zhì)：既無(wú)確定的體積也無(wú)確定的形狀，沙塵暴就是非常典型的一例。因此，有人認(rèn)為，粉體是有別于氣、液、固物質(zhì)形態(tài)的第四種物質(zhì)形態(tài)。

??粉體的某些奇異特性

??由于粉體形態(tài)的特殊性，使之表現(xiàn)出一些與常規(guī)認(rèn)識(shí)不同的奇異特性。如糧倉(cāng)效應(yīng)、巴西豆效應(yīng)、加壓膨脹特性、崩塌現(xiàn)象、振動(dòng)產(chǎn)生規(guī)則斑圖現(xiàn)象、小尺寸效應(yīng)等。

??粉體工程與顆粒學(xué)

??粉體工程是從集合體或整體的角度去研究對(duì)象，而顆粒學(xué)是從個(gè)體的角度去研究對(duì)象，而這個(gè)對(duì)象是同一個(gè)物質(zhì)。粉體工程和顆粒學(xué)的不同還在于：粉體工程所研究的對(duì)象一般是固體顆粒，而顆粒學(xué)所研究的對(duì)象既有固體顆粒、也有液體顆粒和氣體顆粒，如汽車(chē)發(fā)動(dòng)機(jī)汽缸內(nèi)的液滴大小和分布、混凝土中氣孔的大小和分布等等

德國(guó)LAUDA Scientific公司生產(chǎn)的LSA100POM粉體接觸角測(cè)量?jī)x是LSA100光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x配備粉末/多孔介質(zhì)模塊(POM)延伸而來(lái)，是一款專(zhuān)門(mén)用于測(cè)量粉末及多孔材料潤(rùn)濕性的光學(xué)儀器。此外LSA100POM可以選配多種測(cè)量模塊完成滯留力測(cè)量、單一纖維接觸角測(cè)量、俯視法接觸角測(cè)量、界面擴(kuò)張流變測(cè)量、全自動(dòng)臨界膠束濃度(CMC)等特殊任務(wù)，LSA100POM粉體接觸角測(cè)量?jī)x將為材料科學(xué)、界面化學(xué)、電子制造、紡織纖維等相關(guān)實(shí)驗(yàn)室提供更加專(zhuān)業(yè)的解決方案。

LSA100POM的技術(shù)參數(shù)如下：

? 接觸角測(cè)量范圍：0---180°

    Washburm 法接觸角測(cè)量范圍：0---90°

    接觸角測(cè)量精度：±0.1°

    接觸角測(cè)量分辨率：0.01°

? 粉末樣品測(cè)量頻率：15Hz

? 吸收液體積：無(wú)限制

        分辨率：0.1ul

? 標(biāo)準(zhǔn)吸收池類(lèi)型：垂直式 、可選水平滲透池

              尺寸：長(zhǎng)40mm，直徑10mm

? 表面/界面張力測(cè)量范圍：1×10-2 --- 2×103mN/m

                  分辨率：0.01mN/m

? 視頻圖像系統(tǒng)（系統(tǒng)可升級(jí)）

             鏡頭：6.5倍變焦光學(xué)鏡頭

             分辨率：1280×960 pixel

             相機(jī)速度：54fps @1280×960 pixel

             視野范圍：1.1×0.8---9.1×6.9（mm×mm）

備注：視頻系統(tǒng)可選配6.5/8.6/12.9/45倍變焦光學(xué)鏡頭和高速相機(jī)，適合于復(fù)雜功能的應(yīng)用。

? 視頻調(diào)焦臺(tái)

        調(diào)節(jié)方式：X軸方向精密導(dǎo)軌調(diào)節(jié)，調(diào)焦范圍：100 mm

? 樣品臺(tái)

       調(diào)節(jié)方式：X/Y/Z三軸精密導(dǎo)軌調(diào)節(jié)  移動(dòng)行程：100/100/50 mm

       尺寸：100x100 mm

       載重(max)：12kg

? 加液?jiǎn)卧{(diào)節(jié)臺(tái)

       調(diào)節(jié)方式：X/Y/Z三軸精密導(dǎo)軌調(diào)節(jié)  移動(dòng)行程：85/76/60 mm

? 自動(dòng)傾斜臺(tái)

       角度范圍：0~360°

       速度范圍：0.05°--- 7°/s

? 樣品尺寸(max)：∞×290x76 mm（L×W×H）

? 光源：高亮度高均勻LED冷光源，亮度可手動(dòng)/軟件調(diào)節(jié)

? 電源：50/60Hz ; 110/240V; 90 W

? 儀器尺寸（基座）及重量：600×160×543mm（L×W×H）; 19 Kg

金相顯微鏡能不能測(cè)粉體？

金相顯微鏡作為一種用于觀察金屬樣品的顯微分析工具，廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)和金屬研究中。它能夠通過(guò)對(duì)金屬表面的觀察，幫助研究人員了解金屬的組織結(jié)構(gòu)、相組成及晶粒大小等重要信息。當(dāng)我們將其應(yīng)用到粉體測(cè)量上時(shí)，是否能獲得理想的效果？本文將深入探討金相顯微鏡能否有效測(cè)量粉體，并分析其中的技術(shù)挑戰(zhàn)與局限性。

金相顯微鏡的基本原理與應(yīng)用

金相顯微鏡通過(guò)將樣品制備成適合觀察的薄片，借助不同的顯微鏡鏡頭和光源進(jìn)行觀察，從而獲取材料的微觀結(jié)構(gòu)信息。通常，這類(lèi)顯微鏡配備了高分辨率的光學(xué)系統(tǒng)，能夠清晰呈現(xiàn)金屬材料表面不同相區(qū)的結(jié)構(gòu)特征，廣泛應(yīng)用于金屬鑄造、焊接、熱處理等領(lǐng)域，幫助研究者了解材料的性能變化。

粉體的特殊性與金相顯微鏡的適應(yīng)性

粉體由于其顆粒形態(tài)的特殊性，相較于常規(guī)的金屬樣品，更難通過(guò)傳統(tǒng)金相顯微鏡進(jìn)行觀察。粉體材料的顆粒大小、形狀、分布等特征對(duì)于顯微鏡的觀察提出了更高的要求。金相顯微鏡主要適用于平整、穩(wěn)定的固體表面觀察，而粉體由于其顆粒形態(tài)和尺寸的不規(guī)則性，難以獲得清晰的觀察結(jié)果。粉體樣品的制備過(guò)程通常需要將其制成薄片或者通過(guò)特殊處理固定，才能進(jìn)行顯微鏡分析。

金相顯微鏡在粉體分析中的局限性

粉體的顆粒尺寸通常較小，且形狀不規(guī)則，傳統(tǒng)金相顯微鏡的分辨率和觀察角度可能無(wú)法完全呈現(xiàn)顆粒的全貌。金相顯微鏡在觀察粉體時(shí)需要樣品表面平整，如果沒(méi)有經(jīng)過(guò)特殊的樣品制備，觀察效果可能會(huì)受到影響。再者，由于金相顯微鏡主要側(cè)重于觀察金屬的微觀結(jié)構(gòu)，而粉體的形態(tài)和表面特性常常需要借助其他顯微技術(shù)（如掃描電子顯微鏡 SEM）來(lái)獲得更為的分析結(jié)果。

結(jié)論

金相顯微鏡雖然可以對(duì)粉體進(jìn)行一定程度的觀察，但由于粉體的顆粒特性、樣品制備難度及金相顯微鏡的局限性，它并非粉體分析的佳選擇。若要獲得更高精度的粉體表征，推薦使用掃描電子顯微鏡（SEM）等其他更為適合粉體分析的儀器。