U-III表面粒子計數器實驗操作指南

?（基于UK MICRON OPTOELECTRONICS設備規范與行業標準）?

?【概述】?

U-III表面粒子計數器是一款專用于電子半導體、精密光學等領域的高靈敏度檢測設備，通過?激光散射技術?和?智能再懸浮系統?，可量化分析0.1-10.0μm表面顆粒的濃度與粒徑分布，為潔凈度控制提供標準化依據。

?【實驗/設備條件】?

?環境要求?

潔凈度等級：符合?ISO 14644-1 Class 5?及以上（百級潔凈環境）。

溫濕度控制：溫度20-25℃，濕度40-60%?7。

?設備配置?

高精度激光傳感器（波長635nm，分辨率0.1μm）?。

靜態采樣模式（減少氣流干擾）?。

7英寸觸控屏（實時數據顯示與操作）?。

?【樣品提取】?

?表面顆粒再懸浮?

使用?微型氣流噴射模塊?，通過設定流量（2-5L/min）將附著顆粒均勻懸浮至檢測區。

采樣面積：標準模式覆蓋5cm2（可擴展至20cm2）?。

?液滴法輔助檢測（可選）?

針對液體表面污染，采用?微型流控通道?生成液滴（20-100μL），通過光散射分析顆粒分布。

?【實驗/操作方法】?

?設備啟動?

開啟電源預熱10分鐘（確保激光傳感器穩定性）?。

校準粒徑通道（默認0.3/0.5/1.0/3.0/5.0/10.0μm）。

?采樣與檢測?

選擇?靜態采樣模式?，設置采樣時間（1-10分鐘）。

啟動氣流噴射，實時監測顆粒濃度（#/m3）及粒徑分布。

?數據記錄?

導出格式：支持CSV、PDF（含時間戳與檢測參數）。

超標報警：自動標記濃度超限區域（如0.3μm顆粒＞1000#/m3）?。

?【實驗結果/結論】?

?關鍵參數?

顆粒濃度：以每立方米（#/m3）或每平方厘米（#/cm2）為單位統計?。

粒徑分布：六通道分類占比（例如0.3μm顆粒占比＞70%需觸發清潔程序）。

?結論分析?

潔凈度評級：對比?ISO 14644-9?標準，判定區域是否符合工藝要求?。

污染溯源：結合顆粒濃度峰值與設備運行狀態，定位污染源（如設備磨損、人員操作）?。

?【儀器/耗材清單】?

?注：? 實驗操作需遵循廠商操作手冊及ISO標準規范，定期進行設備校準（推薦周期≤6個月）?