▲ 表面改性工藝過程示意圖（投料-混料過程-工藝終點）

電極活性材料和配方能夠決定電池性能所能達到的上限，而工藝過程則決定了其真實性能，因此在產(chǎn)品生產(chǎn)中應(yīng)盡可能完善工藝過程，使其真實性能趨近于性能上限。

以某低聚高分子添加劑處理的改性漿料開發(fā)為例，在該案例開發(fā)中，使用常規(guī)相位光散射Zeta電位測試技術(shù)進行漿料穩(wěn)定性評價時，批次A的復合漿料測試Zeta電位平均值為-59.8mV，理論上滿足了分散良好預期要求（一般以絕對值30mV為界），但在該漿料儲存和輸送中遇到了產(chǎn)生少量大顆粒聚集體的質(zhì)量問題。

在OMEC NS-90Z Plus納米粒度和電位分析儀中，啟用恒流模式下快慢場混合Zeta電位分析技術(shù)，重新檢測該樣品時，我們發(fā)現(xiàn)該雖然樣品Zeta電位均值處于處于預期穩(wěn)定的區(qū)間，但其顆粒Zeta電位的離散度很大，顯示了顆粒之間表面電化學情況的一致性較差。

在對兩種改善措施的實施后的漿料的Zeta電位分析結(jié)果可以看到：增加表活量后Zeta電位的分布向絕對值更高遷移，雖然電位分布離散度依然較大，但不存在0 Zeta電位附近顆粒的分布；增加工藝時間后Zeta電位離散度得到了控制，預示著顆粒表面的表活吸附一致性得到了提升。從分析結(jié)果的預期和實際產(chǎn)品性能上看，兩種措施都能解決了產(chǎn)生異常大顆粒聚集體的問題。

如此同時，雖然添加劑可以有效地改善漿料的分散性以及電化學性質(zhì)，但是其屬于非活性物質(zhì)，其含量也會影響電池的能量密度，商業(yè)化的鋰離子電池基于能量密度及添加劑成本的考慮都應(yīng)嚴格控制添加劑的使用量，Zeta電位分布的表征測量可以幫助企業(yè)獲取針對該質(zhì)量問題解決的最優(yōu)成本和質(zhì)量條件下的解決方案。

▲ 歐美克NS-90Z plus納米粒度及Zeta電位分析儀

NS-90Z Plus 納米粒度及電位分析儀在一個緊湊型裝置儀器中集成了三種技術(shù)進行液相環(huán)境顆粒表征，包括：利用動態(tài)光散射測量納米粒徑，利用電泳光散射測量Zeta電位，利用靜態(tài)光散射測量分子量。

歐美克NS-90Z Plus秉承馬爾文恒流模式下快慢場混合Zeta電位分析技術(shù)可以大幅改善Zeta電位和電位分布測試精度。在傳統(tǒng)的Zeta電位電泳光散射測試中，樣品池中部樣品顆粒在電場驅(qū)動中做定向運動，與此同時，受重力和氣壓平衡的作用沿樣品池壁會出現(xiàn)反向的樣品回流，這個現(xiàn)象被稱作電滲。電滲作用的強度會隨著介質(zhì)體系的粘度，溫度，電泳淌度及樣品電導率等多重因素的影響，使得管壁的介質(zhì)流與反方向的電泳運動產(chǎn)生不可忽略的影響，從而導致Zeta電位測試不準。

同時，為了進一步提升Zeta電位測試結(jié)果的重現(xiàn)性，恒流模式以比色皿中樣品周圍電流的監(jiān)控和調(diào)制來提高測量體系不穩(wěn)定或電極極化或老化情況下的測試性能，使測試結(jié)果具有更好的重現(xiàn)性和更高的準確性。同時相對于恒壓模式，可以支持更高電導率樣品的測試，還能明顯提高電位樣品池的使用次數(shù)。

在一個儲能應(yīng)用的印刷電極的研究案例，具有高含量膠體石墨和石墨烯（15-25%體積含量）的PLA基復合材料開發(fā)過程中，通過漿料配方和生產(chǎn)過程的材料的Zeta電位表征測試和數(shù)據(jù)分析進行優(yōu)化，以提高電極成品中材料的顆粒微觀結(jié)構(gòu)空間排布的形態(tài)和一致性，從而獲得電極對熱、熱流變、機械和電學性能的提升。

該案例中采用中值粒徑D50分別在0.9和22微米的石墨烯和石墨作為原材料進行制漿配方的開發(fā)。石墨烯和石墨原材料的粒徑分別由動態(tài)光散射的納米粒度儀和靜態(tài)光散射的激光粒度儀測量獲得。

如下圖所示，在對石墨與石墨烯原材料進行不同pH值條件的Zeta電位分析中可以看到，當介質(zhì)pH從酸性到堿性的遷移過程中，碳材料的Zeta電位呈現(xiàn)從正30mV左右向負30mV左右的遷移，在中性7左右的pH值條件下Zeta電位表現(xiàn)出趨于穩(wěn)定的負值，但其絕對值仍然在30mV以內(nèi)，對于物料存儲、轉(zhuǎn)移和下游工藝都存在不確定因素，與此同時帶負的顆粒電位與常見的帶負電的基材在涂布和輥壓中可能增加工藝的難度。最終根據(jù)實際條件，選取這個避開等電點的pH值附近來進行進一步的漿料配方開發(fā)。

由于表面活性劑選擇性吸附顆粒，形成了新的顆粒雙電層結(jié)構(gòu)和電荷分布，從而改變其Zeta電位和材料的理化特性。對不同PEI添加量的石墨烯和石墨樣品進行Zeta電位測試，可以發(fā)現(xiàn)，在加入PEI后顆粒表面電位由負值往正值方向遷移，但是石墨烯和石墨兩種材料達到飽和所需要添加PEI的量有所差異。

在石墨烯漿料中，僅添加0.5%的量就達到了正30mV的電位值，在1%的添加量呈現(xiàn)飽和趨勢，Zeta電位值停留在40mV，不再隨表活量的增加而增加。在石墨漿料中，PEI添加量到4%后才趨向于飽和，且最終的表面電位也僅在10mV左右。

在這個例子中我們可以看到，不同材料、材料與介質(zhì)的親和性、材料和表活的吸附特性等多重因素共同決定了最終的漿料特性的不同，通常還需要結(jié)合膠體/漿料的流變學特性以確認最適合下游工藝和質(zhì)量的配方。

在該案例中，經(jīng)過配方的優(yōu)化，改善和指導了下游定向涂覆3D印刷電極的工藝效果，同時也發(fā)現(xiàn)不同的配方和材料下達到最佳電導率的工藝方向的差異，最終達到了印刷電極中22 S.m-1的高電導率成果，Zeta電位的測試結(jié)果對配方和工藝的確認是其中關(guān)鍵質(zhì)量要素之一。與之對比，基于石墨材料優(yōu)化工藝后的印刷電極最終達到了8 S.m-1左右的電導率成果。

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