塞貝克系數電阻測試儀 

----同時測量塞貝克系數和電阻（電阻率）----

         熱電效應描述了材料中溫度和電的相互影響，它基于三個 基本效應：塞貝克效應、珀爾帖效應和湯姆森效應。

         塞貝克效應 是1821年由德國物理學家J. T. Seebeck發現的，描述了在電 絕緣導體中施加溫度梯度時電場的形成。與之相反，熱電冷卻效應描述通過施加電流獲得溫度差的現象。電能和熱能的轉換 效率是材料物理特性，用塞貝克系數S表征，其與溫度相關。 目前，使用化石燃料生成的二氧化碳導致變暖加劇， 而人們也面臨能源枯竭的問題，利用熱電轉換元件收集余熱并有效利用引起人們的廣泛注意。另外，利用熱電冷卻效應進行制冷是熱電特性的重要應用。 

        隨著化石燃料越來越少，二氧化碳排放量不斷增加，變暖也在加劇，因此有效的熱電轉換越來越受關注。利用熱電發電機（TEG）收集熱機余熱（如汽車或傳統發電廠），并將其轉換成電能，以提高其轉換效率。同時，通過帕爾貼進行冷卻的應用也越來越受關注，例如激光器中的恒溫溫度臨界元件、優異熱電材料。 

         通常根據無量綱優值ZT來衡量材料的熱電轉換效率，由熱導率、塞貝克系數和導電率計算得出。 由此，華測儀器研發了一系列簡單易用和優異的材料表征儀器。華測儀器的HC-RD-1100可以同時測定樣品在 RT至1500°C溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。 熱功率、熱電勢、或塞貝克系數描述的都是材料在一定溫差條件下產生感應熱電電壓的大小，單位是V/K。 

          近年來直接將熱能轉化成電能的方法引起人們的廣泛興趣。通過熱電裝置收集熱發動機和燃燒系統余熱并轉 換成電能可以節省數十億美元。 為了應對一系列挑戰性的應用，華測儀器已經開發出HC-RD-1100 塞貝克系數/電阻率測試系統用于分析材料 和器件的特性。

測試軟件
本套測試系統采用計算機控制，系統軟件支持windows10/11,能實現自動完成激勵、測量、數據處理并顯示或輸出測試結果,經過專家和應用工程師的努力，華測開發出這款使用便捷的測量軟件。
? 文本編輯
? 重復測量可少的輸入參數
? 實時測量分析
? 測量曲線比較：多達32條曲線
? 曲線扣除
? 曲線放大縮小
? 一階/二階求導
? 多重峰分析
? 樣品溫度多點校正
? 多種方法分析（DSC TG 、TMA、DIL等）
? 焓變多點校正
? 熱流Cp測量
? 評估結果保存及導出
? ASCII數據導入與導出
? 數據生成到MS Excel
? 信號控制測量測序

技術指標
產品型號：HC-RD-1100
溫度范圍：RT ～ 800/1100/1500℃
測量原理：塞貝克系數：靜態直流法 ； 電阻率：四端法
氣氛：惰性、氧化、還原、真空
樣品支架：三明治結構夾與兩電極之間
樣品尺寸（圓柱形或棱柱形）：2 至 5 mm（面寬），23mm φ6mm，23mm
樣品尺寸（圓盤狀）： 10、 12.7、 25.4 mm
可調探頭距離：4、 6、 8 mm
塞貝克系數測量范圍：1 ～ 2500μV/K 準確度±7%；重復性±3%
電導率測量范圍：0.01 ～ 2*10 5 s/cm 準確度±5-8%；再現性±3%
電源：0 ～ 1A，具長期穩定性
電極材料：鎳（-100至500°C）/鉑（-100至+1500°C）
熱電偶：K/S/C型

產品優勢：
01.寬溫區覆蓋與高適應性
? 支持-100℃至1500℃超寬溫度范圍，兼容低溫至超高溫測試，滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求；
? 提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環境，適配材料在不同反應條件下的性能評估。
02.高精度與多功能集成
? 塞貝克系數測量范圍1～2500μV/K，準確度達±7%，重復性±3%，有效捕捉微弱熱電效應；
? 電導率測量范圍覆蓋0.01～2×105 S/cm，準確度±5～8%，支持從絕緣體到導體的全品類材料電阻率分析；
? 采用靜態直流法（塞貝克系數）與四端法（電阻率），測量結果穩定可靠。
03.靈活兼容性與操作便捷性
? 支持圓柱形（φ6mm）、棱柱形（2-5mm面寬）及圓盤狀（10-25.4mm）多種樣品尺寸，適配復雜形狀試樣；
? 可調探頭距離（4/6/8mm）與三明治夾持結構，保障樣品接觸穩定性，減少測量誤差；
? 電極材料可選鎳（-100～500℃）或鉑（-100～1500℃），靈活應對不同溫區與材料特性。
04.高穩定性與長周期測試能力
? 電源輸出0～160mA，具備長期穩定性，支持連續高溫實驗與長時間數據采集；
? 配備K/S/C型熱電偶，實現有效的溫度監控與閉環控制。