塞貝克系數電阻測試儀 

----測量塞貝克系數和電阻（電阻率）----

         華測儀器研發了一系列簡單易用和優異的材料表征儀器。華測儀器的HC-RD-1100可以同時測定樣品在 RT至1500°C溫度范圍內的塞貝克系數和電阻率。 熱功率、熱電勢、或塞貝克系數描述的都是材料在一定溫差條件下產生感應熱電電壓的大小，單位是V/K。 近年來直接將熱能轉化成電能的方法引起人們的廣泛興趣。通過熱電裝置收集熱發動機和燃燒系統余熱并轉 換成電能可以節省數十億美元。 為了應對一系列挑戰性的應用，華測儀器已經開發出HC-RD-1100 塞貝克系數/電阻率測試系統用于分析材料 和器件的特性。

技術指標
產品型號：HC-RD-1100
溫度范圍：RT ～ 800/1100/1500℃
測量原理：塞貝克系數：靜態直流法 ； 電阻率：四端法
氣氛：惰性、氧化、還原、真空
樣品支架：三明治結構夾與兩電極之間
樣品尺寸（圓柱形或棱柱形）：2 至 5 mm（面寬），23mm φ6mm，23mm
樣品尺寸（圓盤狀）： 10、 12.7、 25.4 mm
可調探頭距離：4、 6、 8 mm
塞貝克系數測量范圍：1 ～ 2500μV/K 準確度±7%；重復性±3%
電導率測量范圍：0.01 ～ 2*10 5 s/cm 準確度±5-8%；再現性±3%
電源：0 ～ 1A，具長期穩定性
電極材料：鎳（-100至500°C）/鉑（-100至+1500°C）
熱電偶：K/S/C型

產品優勢：
01.寬溫區覆蓋與高適應性
? 支持-100℃至1500℃超寬溫度范圍，兼容低溫至超高溫測試，滿足熱電材料、高溫合金等多種材料研究需求；
? 提供惰性、氧化、還原、真空多氣氛環境，適配材料在不同反應條件下的性能評估。
02.高精度與多功能集成
? 塞貝克系數測量范圍1～2500μV/K，準確度達±7%，重復性±3%，有效捕捉微弱熱電效應；
? 電導率測量范圍覆蓋0.01～2×105 S/cm，準確度±5～8%，支持從絕緣體到導體的全品類材料電阻率分析；
? 采用靜態直流法（塞貝克系數）與四端法（電阻率），測量結果穩定可靠。
03.靈活兼容性與操作便捷性
? 支持圓柱形（φ6mm）、棱柱形（2-5mm面寬）及圓盤狀（10-25.4mm）多種樣品尺寸，適配復雜形狀試樣；
? 可調探頭距離（4/6/8mm）與三明治夾持結構，保障樣品接觸穩定性，減少測量誤差；
? 電極材料可選鎳（-100～500℃）或鉑（-100～1500℃），靈活應對不同溫區與材料特性。
04.高穩定性與長周期測試能力
? 電源輸出0～160mA，具備長期穩定性，支持連續高溫實驗與長時間數據采集；
? 配備K/S/C型熱電偶，實現有效的溫度監控與閉環控制。