-
-
AMP - 無掩模曝光機
- 品牌:美國IMP
- 型號: SF-100XCEL/SF-100XPRESS
- 產地:美洲 美國
- 供應商報價:面議
-
香港電子器材有限公司
更新時間:2025-04-24 09:14:23
-
銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
- 同類產品光刻/涂布(3件)
立即掃碼咨詢
聯系方式:021-63813293
聯系我們時請說明在儀器網(www.shangjinews.cn)上看到的!
掃 碼 分 享 -
為您推薦
詳細介紹
產品優點
微米和亞微米光刻 (zui小可達到0.6um線寬)
紫外光直寫曝光,無需掩模,大幅節約了掩模加工費用
靈活性高,可直接通過電腦設計光刻圖形,并可根據設計要求隨意調整。
可升級開放性系統設計。
按照客戶要求可從低端到高端自由配置
使用維護簡單, 設備耗材價格低。
應用范圍廣,目前廣泛應用于半導體、生物芯片、微機電系統、傳感器、微化學、光學等領域。
型號 SF-100 XCEL SF-100 XPRESS SF-100 XTREME 光學系統
標準光學
系統
高分辨率光學系統
高分辨率光學系統
高分辨率光學系統
縮小透鏡 None 3X 任選一個 任選一個 標配以下3種縮小透鏡 4X 10X 20X 4X 10X 20X 4X 10X 20X 像素尺寸
(標準配置)
15um
5um
1.25um
0.5um
0.25um
1.25um
0.5um
0.25um
1.25um
0.5um
0.25um
特征尺寸
(標準配置)
45um 15um 5um 2um 1um 5um 2um 1um 5um 2um 1um 像素尺寸 (配置Sub-micron)
- - 0.936um 0.390um 0.188um 0.936um 0.390um 0.188um 0.936um 0.390um 0.188um 特征尺寸 ((配置Sub-micron)
- - 0.8um 1.17um 0.60um 2.8um 1.17um 0.60um 2.8um 1.17um 0.60um 套刻精度Overlay accuracy (樣品臺配置
theta 方向運動)
-
-
+/-2.5um
+/-1.0um
+/-0.5um
+/-2.5um
+/-1.0um
+/-0.5um
+/-2.5um
+/-1.0um
+/-0.5um
樣品臺 無
自動 XYZ 線性驅動樣品臺。
XY 行程: 60, 100, 150, 200, 300mm可選, Z 行程5mm 或 25mm可選
或選配手動螺桿驅動樣品臺 XY 行程100mm, Z 行程 25mm
可選配 theta 方向運動 theta 方向運動為標準配置 或選配自動線性驅動樣品臺 XY 行程100mm, Z 行程 25mm
- - 設備尺寸
44" W x 26"D x 30"H
60"W x 26"D x 36"H
或, 44"W x 26"D x 30"H
60"W x 26"D x 36"H