產品介紹：

CAMSIZER X2是一款功能強大、用途極其廣泛的粒度粒形分析儀，其測量范圍寬，結合了優秀的雙CCD鏡頭技術和靈活的分散模塊選項。基于動態圖像分析原理（ISO 13322-2），CAMSIZER X2可在0.8μm至8 mm的測量范圍內提供粉末、顆粒和懸浮液的精確粒度粒形信息。

CAMSIZER X2產生的顆粒流，通過具有高分辨率光學系統進行表征。一個超亮LED頻閃光源和兩個高分辨率數碼相機，可以達到每秒300多張圖像的幀速率，并通過強大的軟件進行實時評估。因此，CAMSIZER X2可以在1到3分鐘內以最 高的精確度捕捉數十萬到數百萬個顆粒的圖像。

CAMSIZER X2提供了廣泛的顆粒信息選項，實現對樣品材料進行全面和可靠的表征。它適用于研發和日常質量控制。

顆粒分析儀 CAMSIZER X2

由于雙鏡頭技術，超寬的測量范圍。

Microtrac MRB獨特的雙鏡頭技術是動態圖像分析發展的里程碑。通過同時使用兩個不同放大倍數的相機，獲得了極寬的動態測量范圍。這是在沒有硬件調整或修改的情況下完成的，并且不會影響精度。每個鏡頭專用于一個測量范圍。 放大鏡頭以最 高的精度分析細顆粒，而基準鏡頭以極好的統計數據檢測較大的顆粒。一個特殊的算法結合了兩個相機提供的信息，并在測量范圍內提供精確的粒徑分布，已有三十多年！ 這種設計解決了許多圖像分析系統一個重大的缺點，只使用一個鏡頭，如顯微鏡。這種儀器要么在寬粒徑分布范圍內，不能正確地測量細顆粒，要么由于視野小而無法準確捕獲大顆粒。

測量原理

在測量過程中，雙CCD鏡頭同時工作：基準鏡頭（藍色）分析較大的顆粒，放大鏡頭（紅色）捕捉較小的顆粒。雙CCD鏡頭技術可確保粒度分布中所有顆粒的最 佳測量條件。

顆粒分析儀 CAMSIZER X2 

X-CHANGE模塊切換系統

在顆粒通過測量區域之前，正確的樣品制備和顆粒分散與實際分析測量一樣重要。特別是對于容易團聚的細粉顆粒，充分分散對測量結果的可靠性至關重要。因此，不同的進樣方式有助于在不破壞單個顆粒的情況下實現團聚體的分散。我們的X-Change分散模塊切換系統完 美地滿足了這一要求。

精心設計，實現更 大靈活性

CAMSIZER X2的模塊化“X-Change”系統提供三種可選分散方法，允許為每種樣品類型選擇最 佳分散方法：壓縮空氣分散X-jet、重力分散X-Fall、濕法分散X-Flow。模塊化及插拔式設計，允許在一分鐘內方便安全快速地交換分散模塊。

通過壓縮空氣分散

X-Jet分散模塊通過文丘里噴嘴分散樣品，適用于粉末的有效分析。顆粒的實際測量發生在氣流中。分散壓力可設置在0 kPa和460 kPa之間。這確保了所有樣品類型的最 佳分析條件。

在液體中分散

CAMSIZER X2還提供了使用X-Flow分散模塊分析液體中顆粒的選項。懸浮液在一個閉環中流過一個玻璃樣品池，通過鏡頭記錄顆粒圖像。集成超聲系統有助于進一步分散過程。

通過重力分散

X-Fall分散模塊可用于敏感樣品的無損測量，以盡量減少自由落體過程中顆粒破碎。分析后可回收樣品。

X-JET壓縮空氣分散

由于表面作用力，許多材料容易團聚。在通過文丘里噴嘴時，X-Jet模塊有效地分散氣流中的顆粒。分散壓力可根據單個顆粒的需要設置。例如，對于易碎顆粒，減壓可確保無損測量。通過測量區域后，樣品由真空吸塵器自動從分析儀中取出。

X-FLOW濕法分散模塊測量

X-Flow濕法分散模塊分析0.8μm至1 mm粒徑范圍內的懸浮液。樣品在從分散槽到流動池的閉環內移動，在樣品池中，雙CCD相機系統捕捉顆粒圖像。X-Flow分散模塊配有超聲波浴和強大的離心泵，以確保高效分散。適合的分散介質是水、乙醇以及非極性有機溶劑。

X-FALL重力分散模塊

使用X-Fall模塊可以分析流動的、不易團聚的樣品。這種測量是無損的，因為顆粒通過視野直接從斜槽落下。X-Fall適用于粒徑最 高可達8 mm的顆粒；對過大顆粒的檢測靈敏度極高。與壓縮空氣分散不同的是，X-Fall測量后樣品可以回收

顆粒分析儀 CAMSIZER X2僅僅圖像分析法可以提供粒形信息

散體材料的密度、流動性、緊實性、輸送特性和表面狀況等性能受顆粒形狀的影響。這使得這些參數成為許多應用領域的關鍵工藝和質量指標。

舉例:

• 磨料的棱角度

• 顆粒破碎組分分析

• 玻璃微珠中聚集顆粒測量

• 增材制造用高分子或金屬粉末顆粒的圓度分析（直接影響流動性和包裝密度）

• 針狀晶體的長度和直徑

• 對砂粒的圓度進行分析，以評估其作為建筑材料或支撐劑的可使用性，或用于地質檢查

各種參數可用于形狀量化。其中包括寬長比（縱橫比）、圓度（由面積周長比計算得出）、對稱性、凹凸度和緊密度。圓度是從顆粒角的曲率計算出來的。

顆粒分析儀 CAMSIZER X2

僅對于球形顆粒，“粒徑”定義是明確的：直徑在所有方向和取向上相同。但是，對于非球形粒子，粒徑可能會發生很大變化，這取決于測量的方向和取向。例如，傳統的篩分分析是將篩孔大小不同的金屬絲網篩上的顆粒分離成不同的組分。 顆粒能通過的最 小篩孔由顆粒的最 小投影面確定。因此，篩分分析測量優先取向的顆粒，并提供主要基于顆粒寬度的信息。激光粒度儀將所有測量數據與球形顆粒模型的直徑聯系起來。只有圖像分析法可以準確同時提供不同粒徑定義的粒度信息。這使得測量結果可與其他技術獲得的結果相比較。 動態圖像法的突出優點是可以同時測量顆粒的寬度和長度，并根據這些參數提供粒度分布。顆粒寬度（紅色曲線）很容易與篩分分析結果進行比對。

每個應用程序的最 佳配置

附件和選項

Microtrac MRB為特殊應用提供各種料斗和料槽。分散噴嘴和樣品池有不同的孔徑大小，以確保每次測量的最 佳條件。CAMSIZER X2校準只需一分鐘，可以使用高精度參考校正板進行。

漏斗和降落裝置

 為了成功測量干粉，必須將樣品連續均勻地輸送到分析儀中。為了達到最 佳的進料條件，即使是易黏附粉體，我們可提供由不銹鋼或鋁硬質涂層制成的不同進樣料斗。根據設計，X-Jet模塊的進樣料斗比X-Fall模塊的長。X-Jet模塊料斗的端部可以用圓形或方形出口制造。通過在料斗上放置塑料刷，可以進一步均勻粉末流。 為了成功測量干粉，必須將樣品連續均勻地輸送到分析儀中。為了達到最 佳的進料條件，即使是易黏附粉體，我們可提供由不銹鋼或鋁硬質涂層制成的不同進樣料斗。根據設計，X-Jet模塊的進樣料斗比X-Fall模塊的長。X-Jet料斗的端部可以用圓形或方形出口制造。通過在料斗上放置塑料刷，可以進一步均勻粉末流。
進樣漏斗可方便地將樣品引入進料裝置。漏斗可由鋁或不銹鋼制成，最 多可容納0.6升樣品。

分散噴嘴

防護罩 (X-JET, X-FALL)

防護罩可防止灰塵在測量過程中釋放到環境中。對于不應長時間暴露在環境空氣中的樣品，可使用惰性氣體進行沖洗。此外，防護罩可將噪音水平降低5分貝以上。防護罩由有機玻璃制成，可與X-Dry模塊一起使用。

自由落體軸（X-FALL）

 對于X-Fall模塊，標準尺寸為7 mm X 14 mm，對于較大顆粒，可使用14 mm X 14 mm的自由落體模塊。

顆粒分析儀 CAMSIZER X2

擴大測量范圍

由于專 利雙CCD鏡頭系統，單次測量包含所有量程，無需手動調整。

• X-Fall (重力分散)
  標準量程: 10 μm -3 mm
  可選量程: 10 μm - 8 mm
  
  

• X-Jet (空氣壓力分散)
  標準量程: 0.8 μm-1.5 mm
  可選量程: 1 μm - 5 mm
  
  

• X-Flow (濕法分散)
  標注量程: 0.8 μm - 1 mm

1) X-Fall的下限取決于樣品的特性（團聚與否），易團聚樣品推薦使用X-Jet或X-Flow模塊。

3) X-Flow模塊的測量上限取決于樣品的密度，對于密度上限是2.5g/cm3的樣品來說600μm是標準極限。
纖維和拉伸狀樣品可定制量程。

一切盡在 DIMENSIONS 軟件掌控之中實時的顆粒分析

DIMENSIONS 軟件包括四個結構清晰的工作區，分別是方法建立、測量運行、結果展示和結果對比的計算。 單個工作區可以與軟件分離，例如，轉移到第二臺顯示器，讓您完全控制所有相關流程和參數。 結果計算的工作區在測量期間仍然可以使用。

優勢

• 簡單的方法開發

• 結構清晰的結果展示

• 多種計算選項