PANalytical X 射線分析技術研討會，共同探討X 射線分析技術的新發展！
X 射線分析儀器技術是近年來迅速發展的一門分析技術，它可在材料研究、分析以及各種工業過程和質量控制中測定從金屬、礦物、油和其他液體一直到塑料、藥物、陶瓷材料、納米材料及半導體等各種材料的化學成分和晶體結構。
為了與X 射線分析儀器界的同仁共同攜手促進X 射線分析儀器的發展和廣泛交流Zxin的研究進展，陜西省分析測試協會和荷蘭帕納科公司（PANalytical B.V.）將于2016年5 月26 日（周四）在古城西安舉辦“帕納科ZxinX 射線分析技術研討會”，屆時將向您介紹X 射線熒光光譜分析的Zxin進展！
與此同時，帕納科還將現場展示Zxin推出EDXRF 能譜儀臺式一體機Epsilon1，您將看到其為不同行業量身定做的多種解決方案！特此邀請您光臨出席此次研討會，共同探討X 射線分析儀器技術的發展！
會議信息
2016 年5 月26 日 ZG ? 西安
主辦單位：陜西省分析測試協會
荷蘭帕納科公司
時間：08:30-17:00
地點：西安富凱禧酒店
會議地址：西安市南新街27 號（新城廣場東南角）
TimeProgress08:30-09:00報到登記09:00-09:15致歡迎辭
陜西省分析測試協會領導致辭
如果您對我們的會議感興趣，請聯系：
大昌華嘉商業（ZG）有限公司
聯系人：金小姐
聯系方式：029-88337412
郵箱地址：ins.cn@dksh.com
大昌華嘉網站：www.dksh-instrument.cn
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