網絡講座Live Demo：開爾文探針力顯微鏡 (KPFM) 原理及應用介紹
開爾文探針力顯微鏡 (KPFM) 是一種靜電力顯微鏡 (EFM) 技術，被廣泛應用于研究各種導電或半導體樣品表面電特性。KPFM 提供局部表面電位分布的定量結果，或者，校準后，測量樣品的功函數。為此，KPFM 使用與 EFM 相同的基本實驗配置。在向尖 端和樣品施加交流電壓時，懸臂會受到機械激勵。同時，第二個鎖定放大器通過施加額外的直流偏置來補償樣品和懸臂之間的電位差。因此，反饋信號可用于創建表面電位圖。KPFM 廣泛用于研究和工業中，用于對各種應用（如聚合物化合物或太陽能電池等電子設備）的功函數變化進行成像。
在本次網絡研討會中，我們將進行live demo展示開爾文探針力顯微鏡 (KPFM) 在 Park NX20原子力顯微鏡上的原理和應用介紹 。
上方掃碼參會
8月25日
上午10:00-11:00
報告人
報告人Bryan Lim是帕克新加坡分公司的產品應用工程師，擁有超過十年的原子力顯微鏡操作經驗，精通不同研究領域的電學、納米機械學、磁學和流動測量模式等。
400-878-6829
www.parksystems.cn
Park北京分公司
北京市海淀區彩和坊路8號天創科技大廈518室
Park上海實驗室
上海市申長路518號虹橋綠谷C座305號
Park廣州實驗室
廣州市天河區五山路200號天河北文創苑B座211
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