金相顯微鏡適用于金相組織及表面形態的觀察，是金屬學、礦物學、精密工程學研究的理想儀器。金相顯微鏡具有穩定性好、成像清晰、分辨率高、視場大而平坦的特點。因其對被測物進行既定性又定量地進行分析，故金相顯微鏡是廣泛用于冶金、機械加工、科技等行業的測量儀器。

　　由于客觀條件，任何金相顯微鏡光學系統都不能生成理論上理想的像，各種像差的存在影響了成像質量。下面分別簡要介紹各種像差。

　　1、金相顯微鏡的球差

　　球差是軸上點的單色相差，是由于透鏡的球形表面造成的。球差造成的結果是，一個點成像后，不在是個亮點，而是一個中間亮邊緣逐漸模糊的亮斑，從而影響金相顯微鏡成像質量。

　　2、色差

　　色差是金相顯微鏡透鏡成像的一個嚴重缺陷，發生在多色光為光源的情況下，單色光不產生色差。白光由紅 橙 黃 綠 青 藍 紫 七種組成，各種光的波長不同 ，所以在通過透鏡時的折射率也不同，這樣物方一個點，在像方則可能形成一個色斑。光學系統Z主要的功能就是消色差。色差一般有位置色差，放大率色差。位置色差使像在任何位置觀察都帶有色斑或暈環，使像模糊不清。而放大率色差使像帶有彩色邊緣。

　　3場曲

　　場曲又稱“像場彎曲”。當金相顯微鏡透鏡存在場曲時，整個光束的交點不與理想像點重合，雖然在每個特定點都能得到清晰的像點，但整個像平面則是一個曲面。這樣在鏡檢時不能同時看清整個像面，給觀察和照相造成困難。因此金相顯微鏡的物鏡一般都是平場物鏡，這種物鏡已經矯正了場曲。

　　4、像散

　　像散也是影響金相顯微鏡清晰度的軸外點單色像差。當視場很大時，邊緣上的物點離光軸遠，光束傾斜大，經透鏡后則引起像散。像散使原來的物點在成像后變成兩個分離并且相互垂直的短線，在理想像平面上綜合后，形成一個橢圓形的斑點。像散是通過復雜的透鏡組合來消除。

　　5、慧差

　　慧差屬軸外點的單色像差。軸外物點以大孔徑光束成像時，發出的光束通過金相顯微鏡透鏡后，不再相交一點，則一光點的像便會得到一逗點狀，型如慧星，故稱“慧差”。 

（來源：上海西努光學科技有限公司）

　　合金分析儀是一種可以使用化學分析方法來確定合金成分的儀器設備。對于制造業來說，合金分析儀是一項不可或缺的工具。然而，合金分析儀價格的高低往往是一項制約購買者積極性的因素。那么，影響合金分析儀價格的因素有哪些呢?

　　影響合金分析儀價格的因素有以下幾個方面：

　　技術水平和功能：合金分析儀的技術水平和功能越先進、越全面，通常價格就越高。例如，一些高端合金分析儀可能具有更精確的測量能力、更廣泛的元素分析范圍、更快速的測試速度等。

　　品牌和聲譽：知名品牌的合金分析儀通常有更好的產品質量和可靠性，因此價格往往較高。這是因為這些品牌在研發、生產和售后服務方面投入了大量資源，并積累了良好的聲譽。

　　測量精度和準確性：合金分析儀的測量精度和準確性對于用戶來說非常重要。更高精度和更高準確性的合金分析儀通常價格更高，因為需要更復雜的傳感器、更精密的校準和更嚴格的質量控制。

　　采樣和測試方式：不同的合金分析儀采用不同的采樣和測試方式，如光譜分析、X射線熒光分析、電子束分析等。不同的方式有不同的成本和復雜性，因此會對價格產生影響。

　　附加功能和配件：一些合金分析儀可能配備額外的功能和配件，如樣品制備設備、數據處理軟件、報告生成等。這些額外的功能和配件也會對價格產生影響。

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       電力工作者在工作中，經常需要用到絕緣電阻測試儀，該裝置主要的功能就是來測試變壓器、互感器、發電機、高壓電動機、電力電容、電力電纜、避雷器等絕緣電阻，具有使用方便，準確度高等特點，但是很多人在初次使用的時候，有時候難以達到儀器的測試效果，那么影響絕緣電阻測試儀測試精度的因素都有哪些呢？

       一般通過材料的電阻值隨環境進行溫濕度的升高而減小。相對企業而言，表面電阻（率）對環境以及濕度數據比較重要敏感，而體電阻（率）則對溫度變化較為敏感。濕度可以增加，表面信息泄漏增大， 體電導電流也會增加。溫度不斷升高，載流子的運動發展速率加快，介質不同材料的吸收電流和電導電流會相應成本增加，據有關研究資料文獻報道，一般工作介質在70℃ 時的電阻值僅有20℃ 時的10％。因此，測量技術材料的電阻時，必須指明試樣與環境能夠達到一個平衡的溫濕度。

       介質材料的電阻（速率）值不能在較寬的電壓范圍內保持恒定，即歐姆定律不適用于此。 常溫下，在較低的電壓范圍內，電導電流隨外加電壓的增加而線性增加，材料的電阻值保持不變。 超過一定電壓后，電導電流的增加比試驗電壓快得多，材料的電阻值迅速下降。 可以看出，施加的測試電壓越高，材料的電阻值越低，因此在不同電壓下測試的材料的電阻值可能有很大的不同。

       值得注意的是，在電阻系數的材料變化的決定結果是電場強度在測試，而不是測試電壓。如果對于相同的測試電壓不同的測試電極之間的距離，所述材料的電阻率的測試結果將是不同的，在正，負電極之間的距離越小，試驗的值越小。

       當測得的壓力與某一材料的直流電壓，對測試材料的電流是不穩定的瞬時值，但有一個衰減過程。而加壓，一個大的充電電流流過，隨后相對長的吸收電流緩慢減小，zui后到相對穩定的導通電流。較高的測量電阻值，達到平衡的時間更長。因此，測量電阻值，當被正確地測定讀取，1分鐘后拍攝的穩定或壓力讀數之后被讀取的值。

       另外，高絕緣結構材料的電阻值還與其帶電的歷史發展有關。為準確分析評價研究材料的靜電性能，在對建筑材料可以進行一個電阻（率）測試時，應首先對其進行消電處理，并靜置一定的時間，靜置時間可取5 分鐘，然后，再按測量系統程序設計測試。一般企業而言，對一種學習材料的測試，至少應隨機抽取3～5 個試樣質量進行管理測試，以其平均值作為主要測試實驗結果。

       絕緣電阻測試儀的使用過程沖，需要注意的問題還有很多，大家使用的時候，需要注意。

一、           觀察過程中影響組織評判的因素

對于灰鐵組織的評判，石墨長度的測量可由軟件來完成，石墨形態及腐蝕態基體組織的評判，需要檢測人員對比標準或經驗自己來完成，在評判時檢測人員也會遇到一些相似組織，較難區分。

1、  C型石墨和塊狀石墨區分

GB/T7216-1987舊版的標準中將C型石墨定義為塊狀石墨，目前很多企業也認為C型石墨和塊狀石墨為同一種石墨類型，現在的新標準又是如何定義的呢？GB/T7216-2009《灰鑄鐵金相檢測標準》新的標準中，將C型石墨定義為初生的粗大直片狀石墨，那么塊狀石墨和共晶石墨，一般把初生石墨稱為C型石墨，C型石墨出現在過共晶的鑄鐵中，并在共晶凝固前形成，由于在液態中生長，因此石墨一般粗磊平直且不彎曲。

塊狀石墨：在標準中沒有塊狀石墨的定義，主要因為金相照片是一個隨機的圖片，若觀察金相面與片狀石墨分布存在一定角度，那么在磨拋過程中出現石墨的脫落會形成小坑，只要切面不與石墨片垂直都會出現，也就是塊狀石墨，塊狀石墨會出現在過共晶也會出面在亞共晶中，而C型石墨只可能出現在過共晶中，因此平常觀察剎車盤中“C型石墨”實際為塊狀石墨，不是實際意義的C型石墨。

2、  鐵素體、磷共晶、碳化物的區分

腐蝕態基體組織評判，主要針對珠光體、鐵素體、磷共晶、碳化物的數量，剎車盤灰鐵基體組織絕大數為珠光體，因此正確區分數量較少的鐵素體、磷共晶、碳化物而成了關鍵。

  金相顯微鏡下觀察，三者均為白色，由于鐵素體分布在石墨邊，磷共晶和碳化物在晶界析出，根據位置鐵素體比較容易區分，那么碳化物和磷共晶是如何區分呢？

碳化物一般有針條狀、網狀、塊狀、萊氏體狀，磷共晶一般有孤立塊狀、均勻分布、斷續網狀、連續網狀；檢測人員在100倍下觀察，一般在500或1000倍下進行再次確認，觀察發現磷共晶表面會有奧氏體分解產物的顆粒析出，表面似撒了一層灰。碳化物卻很亮且表面很光滑，常被形容“光滑如雪”。

NJ-JX8型電腦金相自動分析儀是一套用于各種鑄鐵（灰口、球墨）、合金鋼、不銹鋼、銅合金等材料金相分析的專業儀器，使用方便，系統融入了專業知識背景，操作人員無需具備系統的專業知識和經驗。現學現用，自動化程度高。攝像頭撲捉攝像，分辨率高，無需沖洗照片，計算機直接成像、當場分析。 由計算機根據圖標檢測方法計算，無需對照標準圖譜進行主觀判斷，精確度高，減小人為誤差，重復性好。                 

                       南京諾金高速分析儀器廠

                           2020年1月15日