PIV, LDV系統在測量中需要在流場中加入示蹤粒子，示蹤粒子的選擇、注入方式等直接影響試驗的結果信噪比、測量準確度。

圖像測速系統（PIV,MTV)，LDV系統，PLIF系統，都需要自動坐標架布置相機、探頭，以方便試驗。

圖像測速系統（PIV,MTV)測量過程中，需要隨時調節焦距和光圈，觀察試驗效果

為了適合高壓高溫等特殊流場的示蹤粒子添加，北廷測量技術（北京）有限公司開發了背壓ZG可以到10MPa的固體和液體粒子發生器。