OLI 核心技術：光學低相干檢測

高精度定位

采樣分辨率達1 μm，事件點精度達百 μm，可清晰呈現光鏈路中每個事件節點（如連接器端面、芯片波導接口）的回波損耗分布，快速鎖定故障位置。

分布式測量

OLI 區別于傳統的功率指標測量，其最大特點即是可在某一長度范圍內實現分布式強度信號測量，一鍵掃描，可查看最長90 cm范圍內每個位置點的反射信號強度，協助客戶判斷待測品中各種精細結構端面異常情況，耦合好壞，微彎損耗，微裂紋點等。

快速自動化檢測

升級后的 OLI 支持多通道測試，并且添加了精準掃描功能，客戶可根據實際需要測量的范圍精準設置掃描位置，2 cm長度掃描范圍僅需 1.5 s，適配產線高速測量需求，效率提升超 80 %。同時，設備還開發了遠程數據傳輸功能，可實時傳輸測試數據到客戶自己的云端數據庫，方便出貨調用或后期失效查閱。

多場景兼容性測試

可對硅光芯片、高速光模塊、光纖連接器、復雜的光路耦合系統等場景進行測量，并可支持 FC、LC、SC、MPO、MT、PC或APC 等多種接頭類型及端面類型測試。

OLI 優勢：從失效分析到工藝優化

硅光芯片的“全鏈路透視”

硅光芯片作為 5G、AI 算力的核心載體，其內部光波導與外部光纖的耦合質量直接影響信號傳輸效率。OLI 可精準檢測耦合面質量、FA 內部裂紋、FA 帶纖裂紋及損傷等缺陷，助力優化設計并提升制造良率。

高速光模塊的產線級質控

面對400 G / 800 G光模塊的多通道波分復用架構，OLI 可快速掃描模塊內部光纖鏈路，定位微損傷或連接異常。單次點擊測量，同時出所有通道測量結果，方便數據對比和分析。

光纖連接器的精密檢測

隨著光模塊的速率越來越高、光纖鏈路的越來越復雜，光纖連接器早已不再只是傳統的單模單芯了。AI 的火熱，使得 MPO/MT 類光纖連接器出貨量激增，相應的光纖 FA 轉MPO/MT 類跳線也是訂單明顯增加。隨著器件模塊的訂單價值越來越高，客戶對此類連接頭及帶纖的質量要求也越來越高。分布式回損檢測儀（光纖微裂紋檢測儀）的市場將會越來越大。

OLI 應用場景

研發、制造光連接器或光纖跳線的企業

在連接器或光纖跳線制造過程中，使用OLI能有效避免一些微小裂紋和細微缺陷，防止長期的產品失效，確保產品質量。

光模塊制造企業

在光模塊耦合及組裝過后，可使用OLI進行光學鏈路信號測試，作出貨監測，以確保組裝過程中沒有失效。另外，也可用OLI對來料的帶纖跳線進行來料檢驗，以做批量物料的IQC檢驗合格測試。

從事波導結構設計、硅光芯片、光學元件或光路系統的研發制造單位

OLI可通過測量內部光學元件（如透鏡、芯片、波片等）之間的距離及端面反射強度，判斷整個器件或模塊的性能好壞，并隨時調整工藝結構（如耦合間距、鍍膜反射率等）。