- 2025-01-10 10:53:39橢偏儀測(cè)量膜厚
- 橢偏儀測(cè)量膜厚是一種非接觸、高精度的測(cè)量方法。它利用橢偏原理，通過(guò)測(cè)量光波在薄膜表面和界面反射后的偏振狀態(tài)變化，計(jì)算出薄膜的厚度。該方法具備測(cè)量精度高、適用范圍廣、不損傷樣品等特點(diǎn)，能夠測(cè)量單層或多層薄膜的厚度，且不受薄膜材料限制。橢偏儀廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)、材料科學(xué)等領(lǐng)域，為薄膜的制備、分析及質(zhì)量控制提供了可靠的技術(shù)支持。
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- 橢偏儀測(cè)量膜厚的原理
- 橢偏儀是一種光學(xué)測(cè)量?jī)x器，主要用于測(cè)量薄膜厚度和光學(xué)常數(shù)（如折射率和消光系數(shù)）。薄膜技術(shù)在半導(dǎo)體、光學(xué)元件、微電子和納米材料等領(lǐng)域具有廣泛應(yīng)用，而薄膜厚度的精確測(cè)量對(duì)材料性能的研究和產(chǎn)品的質(zhì)量控制至
橢偏儀測(cè)量膜厚產(chǎn)品
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橢偏儀測(cè)量膜厚問(wèn)答
- 2022-10-08 13:38:46產(chǎn)品介紹Bruker FilmTek CD橢偏儀
- ——多模態(tài)臨界尺寸測(cè)量和薄膜計(jì)量學(xué) Bruker FilmTekTM CD光學(xué)臨界尺寸系統(tǒng)是我們解決方案，可用于1x nm設(shè)計(jì)節(jié)點(diǎn)及更高級(jí)別的全自動(dòng)化、高通量CD測(cè)量和高級(jí)薄膜分析。該系統(tǒng)同時(shí)提供已知和完全未知結(jié)構(gòu)的實(shí)時(shí)多層堆疊特性和CD測(cè)量。FilmTek CD利用多模測(cè)量技術(shù)來(lái)滿足與開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)中復(fù)雜的半導(dǎo)體設(shè)計(jì)特征相關(guān)的挑戰(zhàn)性需求。這項(xiàng)技術(shù)能夠測(cè)量極小的線寬，在低于10納米的范圍內(nèi)進(jìn)行高精度測(cè)量。依賴傳統(tǒng)橢圓偏振儀或反射儀技術(shù)的現(xiàn)有計(jì)量工具在實(shí)時(shí)準(zhǔn)確解析CD測(cè)量的能力方面受到限制，需要在設(shè)備研究和開(kāi)發(fā)期間生成繁瑣的庫(kù)。FilmTek CD通過(guò)獲得多模態(tài)測(cè)量技術(shù)克服了這一限制，該技術(shù)甚至為完全未知的結(jié)構(gòu)提供了單一解決方案。FilmTek CD包括具有快速、實(shí)時(shí)優(yōu)化功能的專有衍射軟件。實(shí)時(shí)優(yōu)化允許用戶以小的設(shè)置時(shí)間和配方開(kāi)發(fā)輕松測(cè)量未知結(jié)構(gòu)，同時(shí)避免與庫(kù)生成相關(guān)的延遲和復(fù)雜度。 測(cè)量能力：·厚度、折射率和光盤(pán)計(jì)量·未知薄膜的光學(xué)常數(shù)表征·超薄膜疊層厚度·廣泛的關(guān)鍵尺寸測(cè)量應(yīng)用，包括金屬柵極凹槽、高k凹槽、側(cè)壁角、抗蝕劑高度、硬掩模高度、溝槽和接觸輪廓以及間距行走 bruker橢偏儀在爾迪儀器有售，如有需要可聯(lián)系上海爾迪儀器科技有限公司！撥打電話021-61552797！021-61552797！
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- 2022-09-13 11:39:37產(chǎn)品介紹 Bruker FilmTek CD橢偏儀
- ——多模態(tài)臨界尺寸測(cè)量和薄膜計(jì)量學(xué) FilmTekTM CD光學(xué)臨界尺寸系統(tǒng)是我們解決方案，可用于1x nm設(shè)計(jì)節(jié)點(diǎn)及更高級(jí)別的全自動(dòng)化、高通量CD測(cè)量和高級(jí)薄膜分析。該系統(tǒng)同時(shí)提供已知和完全未知結(jié)構(gòu)的實(shí)時(shí)多層堆疊特性和CD測(cè)量。FilmTek CD利用多模測(cè)量技術(shù)來(lái)滿足與開(kāi)發(fā)和生產(chǎn)中復(fù)雜的半導(dǎo)體設(shè)計(jì)特征相關(guān)的挑戰(zhàn)性需求。這項(xiàng)技術(shù)能夠測(cè)量極小的線寬，在低于10納米的范圍內(nèi)進(jìn)行高精度測(cè)量。依賴傳統(tǒng)橢圓偏振儀或反射儀技術(shù)的現(xiàn)有計(jì)量工具在實(shí)時(shí)準(zhǔn)確解析CD測(cè)量的能力方面受到限制，需要在設(shè)備研究和開(kāi)發(fā)期間生成繁瑣的庫(kù)。FilmTek CD通過(guò)獲得多模態(tài)測(cè)量技術(shù)克服了這一限制，該技術(shù)甚至為完全未知的結(jié)構(gòu)提供了單一解決方案。FilmTek CD包括具有快速、實(shí)時(shí)優(yōu)化功能的專有衍射軟件。實(shí)時(shí)優(yōu)化允許用戶以小的設(shè)置時(shí)間和配方開(kāi)發(fā)輕松測(cè)量未知結(jié)構(gòu)，同時(shí)避免與庫(kù)生成相關(guān)的延遲和復(fù)雜度。 測(cè)量能力：·厚度、折射率和光盤(pán)計(jì)量·未知薄膜的光學(xué)常數(shù)表征·超薄膜疊層厚度·廣泛的關(guān)鍵尺寸測(cè)量應(yīng)用，包括金屬柵極凹槽、高k凹槽、側(cè)壁角、抗蝕劑高度、硬掩模高度、溝槽和接觸輪廓以及間距行走 Bruker FilmTek CD橢偏儀在爾迪儀器有售，如有需要可聯(lián)系上海爾迪儀器科技有限公司！撥打電話021-61552797！021-61552797！
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- 2022-09-16 13:43:23產(chǎn)品介紹|Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR
- ——用于幾乎所有先進(jìn)薄膜或產(chǎn)品晶片測(cè)量的先進(jìn)多模計(jì)量FilmTek? 2000標(biāo)準(zhǔn)桿數(shù)-SE光譜橢圓偏振儀/多角度反射儀系統(tǒng)結(jié)合了FilmTek技術(shù)，為從研發(fā)到生產(chǎn)的幾乎所有薄膜測(cè)量應(yīng)用提供了業(yè)界的精度、精度和多功能性。其標(biāo)準(zhǔn)的小點(diǎn)測(cè)量尺寸和模式識(shí)別能力使該系統(tǒng)成為表征圖案化薄膜和產(chǎn)品晶片的理想選擇。作為我們組合計(jì)量產(chǎn)品線（“標(biāo)準(zhǔn)桿數(shù)-SE”）的一部分，F(xiàn)ilmTek 2000標(biāo)準(zhǔn)桿數(shù)-SE能夠滿足主流應(yīng)用所需的平均厚度、分辨率和光譜范圍之外的測(cè)量要求，并由標(biāo)準(zhǔn)儀器提供。它在超薄到薄膜（特別是多層堆疊中的薄膜）上提供了可重復(fù)的厚度和折射率測(cè)量。此外，與傳統(tǒng)的橢偏儀和反射儀相比，該系統(tǒng)對(duì)這些樣品中的不均勻性更加敏感。這是FilmTek 2000標(biāo)準(zhǔn)桿數(shù)-SE多模設(shè)計(jì)的結(jié)果，該多模設(shè)計(jì)將基于高性能旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器的光譜橢圓偏振儀與我們的多角度差分偏振測(cè)量（MADP）和差分功率譜密度（DPSD）技術(shù)、擴(kuò)展/寬光譜范圍DUV多角度偏振反射儀、我們拋物面鏡光學(xué)設(shè)計(jì)相結(jié)合，以及先進(jìn)的Filmtek軟件。 允許同時(shí)確定：·多層厚度·折射率[n（λ）]·消光（吸收）系數(shù)[k（λ）]·能帶隙·成分（例如，SiGex中的Ge百分比、GaxIn1-xAs中的Ga百分比、AlxGa1-xAs中的Al百分比等）·表面粗糙度·組分，空隙率·結(jié)晶度/非晶化（例如多晶硅或GeSbTe薄膜）·薄膜梯度 橢偏儀在爾迪儀器有售，如有需要可聯(lián)系上海爾迪儀器科技有限公司！撥打電話021-61552797！021-61552797！
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- 2025-04-08 15:15:17測(cè)斜儀可以測(cè)軸向偏位嗎
- 測(cè)斜儀可以測(cè)軸向偏位嗎？ 測(cè)斜儀在工業(yè)設(shè)備中具有重要的應(yīng)用，廣泛用于檢測(cè)機(jī)器、設(shè)備和結(jié)構(gòu)的傾斜角度。許多人可能會(huì)疑問(wèn)，測(cè)斜儀是否能用于測(cè)量軸向偏位。本文將詳細(xì)解答這一問(wèn)題，并深入探討測(cè)斜儀的工作原理以及其在軸向偏位測(cè)量中的應(yīng)用與局限性。通過(guò)對(duì)相關(guān)技術(shù)和實(shí)際應(yīng)用場(chǎng)景的分析，幫助讀者更好地理解測(cè)斜儀的功能和適用范圍。 測(cè)斜儀是一種用于測(cè)量物體傾斜角度的精密儀器，其原理通常基于重力或電容式傳感器，能夠提供高精度的角度測(cè)量結(jié)果。雖然測(cè)斜儀能夠高效地測(cè)量橫向或垂直的傾斜角度，但它并不適合用于直接測(cè)量軸向偏位。軸向偏位是指機(jī)械設(shè)備中沿軸線方向的位移，它通常與設(shè)備的機(jī)械結(jié)構(gòu)、裝配精度以及工作狀態(tài)密切相關(guān)。要精確測(cè)量軸向偏位，通常需要采用其他專業(yè)工具，如激光測(cè)距儀、激光跟蹤儀或者位移傳感器等設(shè)備，這些工具更能精確反映軸向偏移的變化。 盡管測(cè)斜儀并非直接測(cè)量軸向偏位的理想選擇，但在某些特定條件下，測(cè)斜儀仍可為輔助檢測(cè)提供一些幫助。例如，在機(jī)器出現(xiàn)傾斜或不正常的工作狀態(tài)時(shí)，測(cè)斜儀可以幫助確定設(shè)備的傾斜程度，從而間接判斷可能存在的軸向偏位問(wèn)題。通過(guò)將測(cè)斜儀與其他精密測(cè)量設(shè)備結(jié)合，能夠?yàn)檩S向偏位的診斷和調(diào)整提供更全面的數(shù)據(jù)支持。 測(cè)斜儀雖然無(wú)法直接測(cè)量軸向偏位，但它在設(shè)備檢測(cè)中的輔助作用不可忽視。對(duì)于需要精確測(cè)量軸向偏位的場(chǎng)合，應(yīng)選擇專門(mén)的位移測(cè)量設(shè)備，確保數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性與可靠性。在實(shí)際應(yīng)用中，結(jié)合多種測(cè)量工具與技術(shù)手段，能夠更有效地解決設(shè)備維護(hù)和故障排查中的難題。
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- 2022-10-26 16:27:44GEJ30型跑偏傳感器 皮帶機(jī)綜保保護(hù)跑偏傳感器
- GEJ30礦用跑偏開(kāi)關(guān)適用于煤礦井下有甲烷等性氣體的場(chǎng)所，也適用于煤炭、冶金、化工、糧食、運(yùn)輸?shù)刃袠I(yè)以及選煤廠、鋼鐵廠、熱電廠、糧庫(kù)、港口等地面惡劣環(huán)境，用作輸送機(jī)膠帶跑偏檢測(cè)和保護(hù)。跑偏傳感器主要功能及技術(shù)參數(shù)：（1）動(dòng)作角度動(dòng)作角度：30&plun;3°；（2）動(dòng)作力動(dòng)作力：20～100N；（3）復(fù)位角度復(fù)位角度：25&plun;3°；（4）極限角度：≥70°；（5）接觸電阻接觸電阻≤0.1Ω；振動(dòng)、沖擊試驗(yàn)后≤0.2Ω；（6）動(dòng)作性能傳感器受動(dòng)作力作用，探桿轉(zhuǎn)動(dòng)至動(dòng)作角度時(shí)應(yīng)立即動(dòng)作，動(dòng)作力撤除,探桿自動(dòng)返回原位，經(jīng)過(guò)復(fù)位角度時(shí)應(yīng)立即恢復(fù)。（7）觸點(diǎn)容量：DC24V/0.2 A（阻性負(fù)載） GEJ30型跑偏傳感器適用于具有性混合氣體甲烷的危險(xiǎn)場(chǎng)所以及露天煤礦、選煤廠等工作場(chǎng)所，作為礦用帶式輸送機(jī)保護(hù)裝置的配套檢測(cè)之用。對(duì)膠帶輸送機(jī)的輸送帶的跑偏情況進(jìn)行，當(dāng)膠帶輸送機(jī)的輸送帶跑偏時(shí)，傳感器輸出低電平信號(hào)，保護(hù)裝置經(jīng)過(guò)延長(zhǎng)時(shí)間，切斷輸送機(jī)控制電源，實(shí)現(xiàn)跑偏保護(hù)，傳感器安裝數(shù)量不限，并且均為并聯(lián)連接。 廠家銷售電話：崔經(jīng)理 180*0547*2891
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