- 2025-04-25 14:16:15 亞納米
- “亞納米”是一個長度單位，它介于納米和原子尺度之間，通常用于描述比納米級更小但仍大于原子尺度的結構或現象。在科學和工程領域，尤其是納米技術和材料科學中，“亞納米”尺度上的研究和控制對于開發新材料、新器件以及理解微觀世界的物理和化學過程具有重要意義。這一尺度上的研究常常需要高精度的測量和表征技術。
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亞納米問答
- 2023-11-27 09:53:55PFA亞沸酸純化器超凈實驗室用高純酸提取器
- PFA酸純化器一、產品簡介酸純化器：亦稱高純酸蒸餾純化器、酸蒸餾器、亞沸騰蒸餾裝置，簡稱酸純化器(南京-瑞尼克-科技)，常用于超凈化實驗室，痕量分析實驗室、地球化學、海洋系統，地質地礦、地質大隊、多晶硅、材料等行業提取的高純酸。二、工作原理 酸純化器是利用熱輻射原理，保持液體溫度低于沸點溫度蒸發，再將其酸蒸氣冷凝從而制備高純酸以及高純試劑，廣泛應用于樣品處理及分析實驗中。三、產品說明可以滿足ICP-OES、ICP-MS低的檢測限需要及苛刻的分析應用中提供實驗室級超純酸，設備主體由高純度的PTFE和PFA制造而成，與酸試劑接觸容器采用進口PFA材質，本底更低，無腐蝕，無污染，可以處理HNO3、HCL、HF等實驗室的常用酸。實驗證明將金屬雜質含量約10PPB的酸經過一次蒸餾后，金屬雜質含量可以降低到0.01PPB左右。若對酸要求更高，可增加提純次數。廣泛用于地質、光伏、質檢等行業的痕量、超痕量分析。四、產品特征1.設備主體由高純度的PTFE和PFA制造而成，與酸試劑接觸容器采用進口PFA材質，本底更低，無腐蝕，無污染；相比石英材質更耐用不易碎。2.環保節能硅膠加熱套，環形加熱，加熱面積大，出酸效率高，液晶顯示屏可階段控溫，溫度穩定，連續，均勻，樣品回收率高；3.PFA酸純化器腔體密閉，幾乎無酸氣逸出環保節能，圓形塔頂收集純酸，無需冷凝水冷凝，4.儀器零部件簡單，安裝操作方便、腔體半透明配有刻度線加熱蒸餾清晰可見，占地面積小，通風櫥可放多臺使用。5.酸純化器純化一次后可將金屬雜質含量約10PPb的酸可以降低到0.01PPb左右；多次純化器效果更好。5.維修簡單，售后保障，相對國外酸純化器，國產的售后維護是快捷簡單，我公司酸純化器一體成型，電子控制器和主體部分分開，更換損壞零件方便。6.產品配套齊全，配套的PFA試劑瓶，PFA燒杯，備用特氟龍透明管、試劑瓶密封蓋，無需外購其他產品，安裝及可使用。五、、參數1、 產品型號：CH-II-PFA 1000ml2、 規格大小： RNK1000ml 貨號：RNKPFA01CHL3、 生產廠家：南京瑞尼克科技，品牌：NRKFSLYQ4、 對應規格產酸率：60ml/h左右 5、 加熱方式：電加熱，液晶顯示屏，可階段控溫、實現無人值守6、 主要材質構成：采用高純的PFA 、PTFE、PP材質，主體液體接觸部分全部使用PFA材質，圓形腔體透明可視；7、 用于痕量分析中超純酸（HNO3、HCL、HF）的制備；8、 可以排除廢液，刻度液位計，腔體內容積直觀可視，方便觀察9、 控溫精度：±1℃，控溫范圍：室溫-200℃；10、 酸純化過程在密閉環境下進行，避免儀器本身實驗環境二次污染，整個流程幾乎沒有酸氣逸出；11、 可持續加酸，取純酸；不怕蒸干，不用冷卻水；13、 純化器外置PP材質架子，實驗擺放安全穩固；12、儀器安裝操作方便、插電就可使用，占地面積小，節約實驗室空間；14、 將金屬雜質含量約10PPb的酸經過一次蒸餾后，金屬雜質含量可以降低到0.01PPb左右；15、 用于痕量分析中超純酸的制備，通過純化低成本的酸試劑到高純酸，節省成本多達90% 配件齊全，2組特氟龍PFA試劑瓶+PFA配液燒杯專注自然成！期待與您的合作！南京瑞尼克科技開發有限公司
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- 2022-04-24 16:42:23納米多孔氧化鋁
- 本品為化學法合成的白色球形粉末，無重金屬、 無放射性元素。物理指標①晶相 γ相②AI2O3含量 ≥99.9③ 介孔 0.38④ 原晶粒度 50-60納米化學指標①本品用于噴墨打印紙的涂層， 為紙張提高光澤。②増加涂料的耐磨性，具有助流、 提高上粉率、防結塊等特點應用范圍①導熱硅膠②電子灌封膠③粉末涂料公眾號搜索粉體圈，聯系報價。聯系方式：400-869-9320轉8990更多信息進入店鋪查看：https://www.360powder.com/shop.html?shop_id=1727
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- 2023-05-22 13:22:32奇亞籽粉的氧化穩定性分析-OXITEST油脂氧化分析儀
- 許多研究已經證明,飽和脂肪和反式脂肪酸的攝入量增加心血管疾病的發病率密切相關,而脂質豐富的ω3脂肪酸的消費減少的風險這一病理。奇亞籽(Chia seeds flour鼠尾草)種子是富有的自然來源α亞麻酸(C18:3)營養代表ω3的重要來源。奇異籽是一種起源于中美洲的糧食作物，在前哥倫布文明的飲食中占有重要地位，使用奇異籽作為一種新型食品配料已得到歐洲議會和歐洲理事會的批準。游離或酯化的不飽和脂肪酸對氧氣的吸收是食品質量重要的改變之一。脂肪的自動氧化是一種由氧、光、高溫、金屬痕跡，有時還有酶促進的化學反應。OXITEST可以測定各種樣品類型的氧化穩定性，不需要對脂肪進行初步分離。根據常見的應用，由于溫度和氧氣壓力這兩個加速因素，OXITEST加快了氧化過程。該儀器測量兩個腔室內的壓力變化，監測樣品中反應組分的吸氧情況，并自動生成一個IP值。（IP表示誘導期，是到達氧化起始點所需的時間，對應于可檢測的酸敗程度或氧化速率的突然變化。誘導期越長，抗氧化能力越強。）樣品：Chia seeds flour Fat labeled value: 30 %儀器：油脂氧化分析儀（意大利VELP）檢測結果：奇亞籽面粉樣品在80、90、100℃下進行了測試。在氧化測試結束時，通過軟件OXISoftTM自動計算每次運行的IP值。估計保質期下圖顯示了IP和溫度之間的關系。使用在不同溫度下獲得的IP結果，在結果之間的線性方程的情況下，有可能預測產品在儲存溫度(例如25℃)下的貨架期，這很容易由專門的推斷OXISoftTM程序“預估保質期"。結論：不同溫度下ln(IP)結果的相關性為線性(R2)= 0, 999932)。通過OXISoftTM結果估算了奇亞籽面粉在25℃貯藏溫度下的抗氧化能力。富氧可以在相當短的時間內估計奇亞籽面粉的保質期，得到同樣的結果。測試是由直接在整個樣本；不需要初步油脂分離；耐鈦室；節省時間的分析,如果相比傳統方法；專為研發開發，產品開發和質量控制實驗室。通過軟件OXISoft?可獲得的許多信息:1、重復性試驗:在同一樣品或標準上進行的一系列試驗，以驗證其IP周期，計算數據的準確性和重復性2、新鮮度檢驗:檢驗不同批次產品的質量，例如同一種原料，并進行比較3、包裝比較:用于測試哪種包裝能使產品保持在Z鮮的狀態4、配方比較:在相同條件下，確定成品Z穩定的配方5、老化期間的IP:得到產品在貨架期間IP下降的曲線圖6、預估貨架期:對貨架期的氧化穩定性進行預測
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- 2023-04-20 09:37:22BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta
- BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及 Zeta 電位分析儀——背向 + 90°散射粒度 + Zeta 電位三合一型儀 器 簡 介BeNano 180 Zeta Pro 納米粒度及Zeta電位分析儀是BeNano 90+BeNano 180+BeNano Zeta 三合一的頂 級光學檢測系統。該系統中集成了背向 +90°動態光散射 DLS、電泳光散射 ELS和靜態光散射技術 SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數，可廣泛的應用于化學、化工、生物、制藥、食品、材料等領域的基礎研究和質量分析與控制。指標與性能Index＆performance粒徑測試原理：動態光散射技術粒徑范圍：0.3 nm – 15 μm樣品量：3 μL - 1 mL檢測角度：173°+90°+12°分析算法：Cumulants、通用模式、CONTIN、NNLSZeta電位測試原理：相位分析光散射技術檢測角度：12°Zeta范圍：無實際限制電泳遷移率范圍：> ±20 μ.cm/V.s電導率范圍：0 - 260 mS/cmZeta測試粒徑范圍：2 nm – 110 μm分子量測試分子量范圍：342 Da – 2 x 107 Da微流變測試頻率范圍：0.2 – 1.3 x 107 rad/s測試能力：均方位移、復數模量、彈性模量、粘性模量、蠕變柔量粘度和折光率測試粘度范圍：0.01 cp – 100 cp折光率范圍：1.3-1.6趨勢測試模式：時間和溫度系統參數溫控范圍：-15° C - 110° C+/- 0.1°C冷凝控制：干燥空氣或者氮氣標準激光光源：50 mW 高性能固體激光器， 671 nm相關器：最快25 ns采樣，最多 4000 通道，1011 動態線性范圍檢測器：APD （高性能雪崩光電二極管）光強控制：0.0001% - 100%，手動或自動軟件中文和英文符合21CFR Part 11原理圖儀器檢測檢測參數顆粒體系的光強、體積、面積和數量分布顆粒體系的 Zeta 電位及其分布分子量分布系數 PD.I擴散系數 D流體力學直徑 D H顆粒間相互作用力因子 k D溶液粘度檢測技術動態光散射電泳光散射靜態光散射
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- 2022-07-14 15:06:51淺談掃描俄歇納米探針
- 簡介 掃描俄歇納米探針，又稱俄歇電子能譜（Auger Electron Spectroscopy，簡稱AES）是一種表面科學和材料科學的分析技術。根據分析俄歇電子的基本特性得到材料表面元素成分（部分化學態）定性或定量信息。可以對納米級形貌進行觀察和成分表征。近年來，隨著超高真空和能譜檢測技術的發展，掃描俄歇納米探針作為一種極為有效的表面分析工具，為探索和研究表面現象的理論和工藝問題，做出了巨大貢獻，日益受到科研工作者的普遍重視。俄歇電子能譜常常應用在包括半導體芯片成分表征等方向發展歷史 近年來，固體表面分析方法獲得了迅速的發展，它是目前分析化學領域中最活躍的分支之一。它的發展與催化研究、材料科學和微型電子器件研制等有關領域內迫切需要了解各種固體表面現象密切相關。各種表面分析方法的建立又為這些領域的研究創造了很有利的條件。在表面組分分析方法中，除化學分析用光電子能譜以外，俄歇電子能譜是最重要的一種。目前它已廣泛地應用于化學、物理、半導體、電子、冶金等有關研究領域中。 俄歇現象于1925年由P.Auger發現。28 年以后，J.J.Lander從二次電子能量分布曲線中第一次辨認出俄歇電子譜線， 但是由于俄歇電子譜線強度低，它常常被淹沒在非彈性散射電子的背景中，所以檢測它比較困難。 1968年，L.A.Harris 提出了一種“相敏檢測”方法，大大改善了信噪比，使俄歇信號的檢測成為可能。以后隨著能量分析器的完善,使俄歇譜儀達到了可以實用的階段。 1969年圓筒形電子能量分析器應用于AES, 進一步提高了分析的速度和靈敏度。 1970年通過掃描細聚焦電子束,實現了表面組分的兩維分布的分析(所得圖像稱俄歇圖)，出現了掃描俄歇微探針儀器。 1972年，R.W.Palmberg利用離子濺射，將表面逐層剝離，獲得了元素的深度分析，實現了三維分析。至此，俄歇譜儀的基本格局已經確定， AES已迅速地發展成為強有力的固體表面化學分析方法，開始被廣泛使用。基本原理 俄歇電子是由于原子中的電子被激發而產生的次級電子。當原子內殼層的電子被激發形成一個空穴時，電子從外殼層躍遷到內殼層的空穴并釋放出光子能量；這種光子能量被另一個電子吸收，導致其從原子激發出來。這個被激發的電子就是俄歇電子。這個過程被稱為俄歇效應。Auger electron emission 入射電子束和物質作用，可以激發出原子的內層電子。外層電子向內層躍遷過程中所釋放的能量，可能以X光的形式放出，即產生特征X射線，也可能又使核外另一電子激發成為自由電子，這種自由電子就是俄歇電子。對于一個原子來說,激發態原子在釋放能量時只能進行一種發射：特征X射線或俄歇電子。原子序數大的元素，特征X射線的發射幾率較大，原子序數小的元素，俄歇電子發射幾率較大，當原子序數為33時，兩種發射幾率大致相等。因此，俄歇電子能譜適用于輕元素的分析。 如果電子束將某原子K層電子激發為自由電子，L層電子躍遷到K層，釋放的能量又將L層的另一個電子激發為俄歇電子，這個俄歇電子就稱為KLL俄歇電子。同樣，LMM俄歇電子是L層電子被激發，M層電子填充到L層，釋放的能量又使另一個M層電子激發所形成的俄歇電子。 只要測定出俄歇電子的能量，對照現有的俄歇電子能量圖表，即可確定樣品表面的成份。由于一次電子束能量遠高于原子內層軌道的能量，可以激發出多個內層電子，會產生多種俄歇躍遷，因此,在俄歇電子能譜圖上會有多組俄歇峰，雖然使定性分析變得復雜，但依靠多個俄歇峰,會使得定性分析準確度很高，可以進行除氫氦之外的多元素一次定性分析。同時,還可以利用俄歇電子的強度和樣品中原子濃度的線性關系,進行元素的半定量分析,俄歇電子能譜法是一種靈敏度很高的表面分析方法。其信息深度為5nm以內,檢出限可達到0.1%atom。是一種很有用的分析方法。系統組成 AES主要由超高真空系統、肖特基場發射電子槍、CMA同軸式筒鏡能量分析器、五軸樣品臺、離子槍等組成。以ULVAC-PHI的PHI 710舉例，其核心分析能力為25 kV肖特基熱場發射電子源，與筒鏡式電子能量分析器CMA同軸。伴隨著這一核心技術是閃爍二次電子探測器、 高性能低電壓浮式氬濺射離子槍、高精度自動的五軸樣品臺和PHI創新的儀器控制和數據處理軟件包：SmartSoft AES ? 和 MultiPak ?。并且，目前ULVAC-PHI的PHI 710可以擴展冷脆斷樣品臺、EDS、EBSD、BSE、FIB等技術，深受廣大用戶認可。PHI710激發源，分析器和探測器結構示意圖： 為滿足當今納米材料的應用需求，PHI 710提供了最高穩定性的 AES 成像平臺。隔聲罩、 低噪聲電子系統、 穩定的樣品臺和可靠的成像匹配軟件可實現 AES對納米級形貌特征的成像和采譜。 真正的超高真空（UHV）可保證分析過程中樣品不受污染，可進行明確、準確的表面表征。測試腔室的真空是由差分離子泵和鈦升華泵（TSP）抽氣實現的。肖特基場發射源有獨立的抽氣系統以確保發射源壽命。最新的磁懸浮渦輪分子泵技術用于系統粗抽，樣品引入室抽真空，和差分濺射離子槍抽氣。為了連接其他分析技術，如EBSD、 FIB、 EDS 和BSE，標配是一個多技術測試腔體。 PHI 710 是由安裝在一個帶有 Microsoft Windows ? 操作系統的專用 PC 里的PHI SmartSoft-AES 儀器操作軟件來控制的。所有PHI電子光譜產品都包括執行行業標準的 PHI MultiPak 數據處理軟件用于獲取數據的最大信息。710 可應用互聯網，使用標準的通信協議進行遠程操作。AES的應用 掃描俄歇納米探針可分析原材料（粉末顆粒，片材等）表面組成，晶粒觀察，金相分布，晶間晶界偏析，又可以分析材料表面缺陷如納米尺度的顆粒物、磨痕、污染、腐蝕、摻雜、吸附等，還具備深度剖析功能表征鈍化層，包覆層，摻雜深度，納米級多層膜層結構等。AES的分析深度4-50 ?，二次電子成像的空間分辨可達 3納米，成分分布像可達8納米，分析材料表面元素組成 （Li ~ U），是真正的納米級表面成分分析設備。可滿足合金、催化、半導體、能源電池材料、電子器件等材料和產品的分析需求。AES 應用的幾種例子，從左到右為半導體FIB-cut，鋰電陰極向陶瓷斷面分析小結本文小編粗淺的介紹了俄歇電子能譜AES的一些基礎知識，后續我們還會提供更有價值的知識和信息，希望大家持續關注“表面分析家”！
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