- 2025-01-10 17:05:58Intervue 低相干干涉儀
- Intervue低相干干涉儀是一種高精度光學(xué)測量儀器，主要用于測量光學(xué)元件的表面形貌、厚度變化及內(nèi)部缺陷等。它采用低相干光技術(shù)，能夠有效避免干涉條紋的混淆，提高測量精度。該儀器具有非接觸、無損傷、測量速度快、分辨率高等優(yōu)點，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光學(xué)鏡片、薄膜材料等領(lǐng)域。通過精確測量，可幫助科研人員優(yōu)化產(chǎn)品設(shè)計，提升產(chǎn)品質(zhì)量。儀器網(wǎng)提供Intervue低相干干涉儀的詳細參數(shù)、實時報價及供應(yīng)商信息，助力用戶高效采購。
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