角度可調：20-70°
根據晶體選擇的不同，測試厚度為：0.5-10微米
可選晶體：ZnSe,Ge,Si,KRS-5
可變溫使用
適用于粉末樣品，薄膜樣品，液體樣品，并可選配電化學反應池。