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紫外可見近紅外分光光度計
- 品牌:天津拓普
- 型號: TP720型
- 產地:天津 津南區
- 供應商報價:¥158000
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天津市拓普儀器有限公司
更新時間:2024-01-11 08:44:46
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
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產品特點
- 拓普自主研發的TP720 紫外可見近紅外分光光度計是測試波長為190-2800nm的光譜分析儀器,儀器執行標準為《JJG178-2007 紫外可見近紅外分光光度計產品標準》。
詳細介紹
TP720型紫外可見近紅外分光光度計可覆蓋UV-VIS-NIR全波段光譜范圍,實現UV-VIS-NIR波段連續掃描。其應用領域廣泛,可測量固體/液體樣品在紫外-可見-近紅外范圍內的特征吸收;可研究玻璃鍍膜樣品吸收/透射或反射光譜;可研究粉末樣品在整個紫外可見近紅外區的吸收譜圖、還可測定核酸/蛋白等物質的含量或檢測酶的活性等,適合于半導體、光學元件、建筑材料、新型材料等行業,是功能強勁的光譜分析儀器。
TP720型紫外可見近紅外分光光度計儀器特點:
1.采用經典的Czerny-Turner光學結構,其結構簡單、精度高、光譜分辨率良好;
2.采用雙光柵、雙接收器的設計,保證了儀器工作波段可覆蓋紫外可見、近紅外區(UV-VIS-NIR)全波段的優勢;
3.接收器件均為進口器件,保證了儀器的高性能和穩定度;
4.儀器的控制(如光柵轉換、濾光片轉換、接收器轉換、波長掃描等)全部由計算機控制,接口為USB2.0,儀器的連接簡單,極大的提高了通訊速率;
5.全中文操作軟件,功能選擇簡單、易懂。
TP720型紫外可見近紅外分光光度計規格參數:
工作波長范圍
190-2800nm
掃描方式
透過率、吸光度、反射率、能量
波長準確度
±0.5nm(UV/VIS);±2nm(NIR)
波長重復性
≤0.3nm(UV/VIS);≤1.0nm(NIR)
掃描步距
0.01nm
光度范圍
0.300~2.5A
光度準確度
±0.3%T(0-100%T)
光度重復性
0.3%T
基線平直度
±0.005 A(200-2500nm,預熱30分鐘后)
光譜帶寬
0.2-5nm(UV-VIS),1-20nm (NIR)
雜散光
≤0.2%T(220nm)
外形尺寸
750*600*260mm
重量 59kg TP720型紫外可見近紅外分光光度計軟件功能:
配備專用數據軟件,可實時測量樣品數據,測試結果可導出(文本格式、EXCEL);軟件設置了導入功能,也可導入文本格式數據;軟件提供測試報告打印功能,用戶可打印測試圖譜和數據。提供了建筑玻璃測量功能、涂料測量功能等,滿足行業客戶專用測試需要。
儀器成套性
TP720紫外可見近紅外分光光度計主機、ZF720-2 固體樣品測量附件、ZF720-3 反射測量附件及反射鏡、專用數據軟件、電源線、數據線、配套工具等
* 用戶需自備計算機及打印機
可選附件
ZF720-1積分球附件(漫反射測試用)
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技術資料