OLI-P 是基于白光干涉的分布式偏振串擾測試分析儀 ，采樣分辨率優 于2cm ， 噪聲靈敏度最低可達-90dB。設備可高精度測量保偏光纖環、Y波 導芯片等器件的分布式偏振串擾。通過偏振串擾測試 ，精準定位保偏光路 中異常串擾點位置、分析連接頭或耦合端面質量、測量保偏器件芯片的偏振消光比等。該產品可用于產品工藝設計改進或產線批量檢測。

產品特點：

• 分布式測量保偏器件串擾

• 高采樣分辨率和定位精度

• 靈敏度高、測量動態范圍大

• 測量時間短

主要應用：

• 保偏光纖環的分布式串擾測量

對保偏光纖環進行全長度的分布式串擾測量 ，精準定位環內異常串擾點 ，評估光纖環的整體偏振性能 ，為光纖環的生產工藝優化、質量控制以及故障排查提供有力支持 ，確保光纖環在實際應用中的穩定性和可靠性。

• 波導芯片的消光比及雙折射測量

精確測量 Y 波導芯片等波導器件的偏振消光比和雙折射特性 ，分析波導結構對偏振光的調控能力 ，為波導芯片的設計改進、性能提升以及質 量檢測提供關鍵數據 ，推動光電子器件技術的發展與創新。

參數：

備注：

1. 光纖線性雙折射按Δn=5×10-4計

2. 光纖線性雙折射按Δn=5×10-4 ，設備可設置的最大采樣分辨率

3. 設備滿量程測量時，測量時間小于14s

4. -90dB指最大串擾峰低于-70dB時噪聲水平（底噪平均值）