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XPN-300EC熱臺數碼偏光顯微鏡

品牌：上海長方
型號： XPN-300EC/XPN-300ZD
產地：上海浦東新區
供應商報價：￥52100

上海長方光學儀器有限公司更新時間：2021-09-03 10:01:26

銷售范圍售全國

入駐年限第10年

營業執照已審核

同類產品實驗室偏光顯微鏡(4件)

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產品特點

XPN-300偏光顯微鏡熔點儀、偏光溫控儀是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校zui常用的專業實驗儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導體工業以及藥品檢驗等領域。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測，有自動P、I、D調節，及模糊手動調節

詳細介紹

一、用途
XPN-300偏光顯微鏡熔點儀、偏光溫控儀是地質、礦產、冶金等部門和相關高等院校最常用的專業實驗儀器。偏光顯微鏡可供廣大用戶作單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察以及顯微攝影，觀察物體在加熱狀態下的形變、色變及物體的三態轉化。偏光顯微鏡配置有石膏λ、云母λ/4試片、石英楔子和移動尺等附件還可用于化工化纖、半導體工業以及藥品檢驗等領域。偏光熔點測定儀采用微電腦檢測，有自動P、I、D調節，及模糊手動調節功能，偏光熔點測定儀通過LED顯示溫度值及設定溫度值。

電腦偏光熔點測定儀

XPN-300EC

數碼偏光熔點測定儀

XPN-300ZD

二、系統簡介

偏光顯微鏡熔點儀系統是將精密的光學顯微鏡技術、先進的光電轉換技術、的計算機圖像處理技術wan美地結合在一起而開發研制成功的一項高科技產品。可以顯示屏上很方便地觀察實時動態圖像，并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。

三、技術參數：

1.目鏡：

類別	放大倍數	視場（mm）
平場目鏡	10X	φ22
十字目鏡	10X	φ20

2.物鏡：

類別	放大倍數	數值孔徑（NA）	工作距離（mm）	蓋玻片厚度（mm）
物鏡	4X	0.10	7.18	-
	10X	0.25	4.70	0.17
	40X	0.65	0.72	0.17
	60X	0.85	0.18	0.17

3.放大倍數：40X 100X 400X 600X
  系統放大倍數：40X-2600X
4.聚光鏡數值孔徑：NA1.2/0.22 搖出式消色差聚光鏡，中心可調
5.起偏鏡：振動方向360°可調，帶鎖緊裝置，可移動光路
6.檢偏鏡：可移出光路，旋轉范圍90°，內置勃氏鏡，中心可調
7.補償器：λ片（Ф18mm，一級紅，光程差551nm）
          λ/4片（Ф18mm, 光程差147.3nm）
          石英楔子（12x28mm，Ⅰ-Ⅳ級）
8.調焦系統：帶限位和調節松緊裝置的同軸粗微動，微動格值 0.002mm
9.電光源：6V/20W 鹵素燈（亮度可調）
10.防霉：特有的防霉系統

四、偏光熔點測定儀

  1.偏光熔點測定儀
    在 20X 物鏡下工作溫度可達到最高300 ℃ 、溫度運行程序全自動控制；溫度程序段由用戶自行設定，30段溫度編程，循環操作，能準確反映設定溫度、爐芯溫度、樣品的實際溫度。每段設定起始溫度，及在該段內可維持時間，升溫速率可調、精度±0.3 ℃、記憶點讀數。
  2.顯微加熱平臺
    可以隨載物臺移動、工作區加熱面積大、透光區域可調、工作區溫度梯度低于± 0.1
    起始溫度室溫
    工作區加熱使用面積至少1X1cm
    工作區溫度梯度不超過 ± 0.1oC
    透光區域 2mm以上，可調
    顯示溫度與實際溫度誤差不超過 ± 0.2
    熱臺可以隨載物臺移動
    熔點測定溫度超過100度時，25X的物鏡工作距離太近，容易損壞鏡頭，請選用長工作距離的 20X、40X 物鏡

五、系統組成

電腦型高精度偏光顯微鏡（XPN-300EC）： 1、顯微鏡 2、熔點儀 3、攝像器(CCD) 4、A/D(圖像采集) 5、計算機
數碼相機型高精度偏光顯微鏡（XPN-300ZD）：1、顯微鏡 2、熔點儀 3、數碼相機

六、選購件

1、高像素成像系統 2.偏光顯微鏡分析軟件 3.物鏡：20X