采用第二代陶瓷X光管ZG技術，通過精密機械加工使陽極靶材三維高精度定位，用戶在更換X光管后無需重新校準路

• 立式測角儀，采用DOPS直接光學位置編碼ZG技術

技術參數：

1，功率：3kW
2，測角儀重現性：0.0001度
3，設備尺寸：1975×1132×1371 mm (H×D×W)


靈活無論是工業生產控制還是深入的材料研究，均可根據單獨的帶藥求進行定制。從未知物相鑒定和混合物定量，到諸如殘余應力和晶粒擇優取向的微觀結構屬性測定，系統的應用不受任何限制，在所有領域都體現出高性能。在常溫或非環境溫度條件下，均可對塊狀材料以及薄膜進行分析。
快速得益于帕納科榮獲ZG的光學部件和平臺PreFIX-即預校準光路的安裝方法，只需幾分鐘即可完成重新配置并執行不同類型的分析。
前瞻性如果出現新的應用，只需增加必要的模塊即可。開放式硬件設計結構確保了X'Pert Powder與將來X射線衍射方面的開發兼容。