BT-1700掃描圖像粒度粒形分析系統(tǒng)

基本性能指標(biāo)
●測(cè)試范圍:1-10000μm
●放大倍數(shù):30-1000倍
●重復(fù)性誤差:≤1%(國(guó)標(biāo)樣D50偏差)

●準(zhǔn)確性誤差:≤1%(國(guó)標(biāo)樣D50偏差)

●顆粒識(shí)別速度:≥10000個(gè)/分鐘

●進(jìn)口高速CCD:速度120幀/秒

●掃描范圍:直徑為55mm
●測(cè)量時(shí)間:≤10分鐘
●漏檢率:≤3%(10微米以上顆粒無(wú)漏檢)

●金屬顆粒識(shí)別準(zhǔn)確率:大于90%

●纖維顆粒識(shí)別準(zhǔn)確率:大于92%

適用領(lǐng)域
磨料:如碳化硅、剛玉、金剛石、石榴石等。電池材料:球形石墨粉等金屬粉:如球形鋁粉、鉛錫合金粉、其它霧化金屬粉。非金屬粉:如玻璃珠、聚苯乙烯等,針狀粉:如硅灰石等其他:如科研、教學(xué)等

突出特點(diǎn)
●無(wú)縫合成全景圖像:精確控制的電動(dòng)平臺(tái)移動(dòng)掃描拍攝局部圖像,zui后將每個(gè)局部圖像合成全景圖像,實(shí)現(xiàn)無(wú)縫連接并對(duì)全景圖像進(jìn)行粒度、粒形分析,保證了顆粒的代表性。
●金屬和纖維顆粒識(shí)別技術(shù):如果樣品中有金屬顆粒或纖維顆粒,系統(tǒng)能自動(dòng)識(shí)別出來(lái),并給出含量等量化指標(biāo)

●自動(dòng)測(cè)試技術(shù):點(diǎn)擊自動(dòng)測(cè)試按鈕,系統(tǒng)將自動(dòng)尋找原點(diǎn),自動(dòng)拍攝、自動(dòng)合成全景圖像、自動(dòng)分析每個(gè)顆粒、自動(dòng)顯示結(jié)果