QUANTAX EDS 系統擁有**能量分辨率、最大數據處理能力及**幾何結構。

**能量分辨率可確保輕元素和低能量的GX分析

新一代 Slim-line 探測器技術能在低束流下實現更高的計數率

超高數據處理能力實現最快速測量

可完全集成至全新的 ESPRIT 2.0 四合一軟件中

敢為人先！

X射線顯微分析是一種在電子顯微鏡中經常用到的測量固體樣品、薄膜、微粒化學成分的分析技術。該技術應用一種能量色散X射線光譜儀(EDS)能同時探測和分析低至Be的所有元素。該技術從一個微米級的樣品區域獲得元素信息，提供低至0.1%質量百分數的檢出限，這些特性使得X射線顯微分析成為最靈敏的分析方法之一。

布魯克電制冷能譜儀duyi無二的X-Flash硅漂移探測器(SDD)與ding級的Hybrid脈沖處理技術相結合能獲得**的能量分辨率和比常規Si(Li)探測器快十倍的測量速度。

布魯克電制冷能譜儀配有界面友好、功能強大的ESPRIT軟件。該軟件標配中、英文界面。應用該軟件可進行無標樣定量分析，和有標準定量分析，或二種方法結合使用。另外，還可進行點、線、面分析，線掃描，面分布，超級面分布，相分析，顆粒分析，鋼鐵分析，槍擊殘留物分析等等。

QUANTAXESPRIT軟件包

直觀的圖形用戶界面顯示了所有對分析者而言重要的信息，分析人員一目了然，并可以立即進入最常用的功能。
簡單的操作理念和直觀的向導，集成的"助手"功能，完整的在線幫助，使初學者能很快熟悉分析系統。

該軟件交互式、循序漸進式的譜圖評價程序對分析者而言尤其重要，尤其是對于非常復雜的分析任務來說。而且，該軟件包集成了全球zuixin修訂擴展的原子數據庫，一些重要的基本參數有助于提高定性和定量分析的精度。

該分析軟件的GX性、靈活性和透明性使用戶能很快信服并對之滿意。