XTrace 新型微束斑 X 射線源，使掃描電子顯微鏡具備Micro-XRF 分析能力。

X射線光管搭配多導毛細管聚焦透鏡適用于40μm以下小束斑分析
相比于電子束激發，對重元素的探測靈敏度提高了 20 至 50 倍，可進行痕量元素探測
通過組合電子和 X 射線激發光譜的定量分析結果來提高分析精度
可完全集成至全新的 ESPRIT 2.0 四合一軟件中

敢為人先！

QUANTAX Micro-XRF系統擁有可以加裝在掃描電鏡上的XTrace微型X射線發生源，使掃面電鏡具備了完全的微區XRF分析能力。XTrace 適用于絕大多數的掃描電鏡，用戶可以擁有 XRF分析的優勢，對痕量元素的高靈敏度，可以得到更多樣品內部元素的信息。

用戶友好型Micro-XRF系統

全息面分布（Hypermap）可以將完整的譜圖以像素點為單位進行存儲。用戶可以在測試過程中或之后的任何時間進行數據分析處理。

樣品可以進行微區XRF分析和能譜分析而不需要改變位置。

分析方法一體化，EDS和微區XRF分析方式都可以在ESPRIT 2.0軟件里面實現。

不會干擾掃描電鏡的正常操作，XTrace可以一直在停留在采集位置。

完全的微區XRF分析

微區分析結果可媲美臺式XRF 的結果。

圖像拼接可以實現更大區域的面分布。

多種X射線濾波器可供選擇，用來YZ衍射峰。

和掃描電鏡的自動馬達臺聯動。

允許樣品傾斜，實現X射線的最小束斑尺寸。