C9920-12 外量子效率測量系統

濱松 熒光/發光材料和器件參數的評估系統目錄：

量子效率測量系統
用于發光材料的采用光致發光法的量子效率測量系統。薄型材料、液體溶液和粉末等都能被分析。

量子效率測量系統Quantaurus-QY

外量子效率測量系統
采用積分球的高精度外量子效率測量系統。它實現了不受待測物發光角特性影響的高精度測量。

外量子效率測量系統：

發光材料可以由他們的熒光量子效率進行表征。對于有機/無機LED等發光器件，對應的物理參數是通過電致發光法測得的外量子效率（EL，electroluminescence）。針對這種應用，外量子效率測量系統C9920-12應運而生。
OLED器件的發光效率受多種因素的影響，包括各層和玻璃基底的吸收、表面發射、輻射角和基底波導通量等。這些因素通過作為樣品室的積分球進行測量。樣品放置在球內，并被固定的電流或電壓激發。歡迎您登陸濱松ZG全新中文網站http://www.hamamatsu.com.cn/查看該產品更多詳細信息！

詳細參數

特性

?積分球的采用能使外量子效率（EQE）的測量不受樣本發光角特性的影響

?軟件控制能量源（KEITHLEY 2400）

?對應于每一步加載電壓/電流的光譜能被瞬時測量（I-V-L測量）

?背照式制冷型CCD實現高靈敏度測量

?直觀的軟件易于操作，用于測量、計算和系統控制。

?可以在不同圖表中繪制多種變量（電流、電流密度、電壓、發光效率、色度等）。

?系統易于被擴展到光致發光量子效率測量系統和光分布測量測量系統。