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微光顯微鏡PHEMOS系列
- 品牌:日本濱松
- 型號: PHEMOS-1000
- 產地:亞洲 日本
- 供應商報價:面議
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濱松光子學商貿(中國)有限公司
更新時間:2025-02-24 10:56:46
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銷售范圍售全國
入駐年限第10年
營業執照已審核
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詳細介紹
微光顯微鏡PHEMOS系列
PHEMOS-1000是一款標準型高分辨率微光顯微鏡,其包含了一個紅外共焦激光顯微鏡。PHEMOS-1000可根據設備環境和設備裝置來靈活改變包括插座板到300mm雙面晶片探針等等的部件。它還可以適配高靈敏度近紅外相機和高分辨率納米透鏡等選配件。該顯微鏡有多種選配,包括紅外-光致阻值改變(IR-OBIRCH)分析、與大規模集成電路測試機連接和CAD導航功能等,這些選配有助于該顯微鏡處理多種測量需要。
黑盒照明燈含水銀,請根據當地法規處理。
特性
可選配適用于高分辨率、高靈敏度觀測的納米透鏡
紅外共焦激光顯微鏡
紅外-光致阻值改變(IR-OBIRCH)分析功能(選配)
低電壓樣品用高靈敏度近紅外相機(選配)
數字lock-in組件加強紅外-光致阻值改變的檢測能力(選配)
可安裝300mm雙面半自動探針
顯示功能
PHEMOS-1000將發光圖像疊加到高分辨率模板圖像上來快速定位缺陷點。對比度增強功能可使圖像更清晰,細節更多。
顯示功能注釋
圖像的任何位置都可以顯示評論、箭頭等注釋符號。比例顯示
可使用分段,在圖像上顯示比例寬度。柵格顯示
圖像上可現實水平和垂直柵格。縮略圖顯示
圖像可以以縮略圖的形式存儲和調用,stage坐標等圖像信息也可顯示。分屏顯示
模板圖像、發光圖像、疊加圖像以及參考圖像可一次顯示在4個窗口的屏幕上。
參數
產品名稱 PHEMOS-1000 探測目標 器件發光(發光探測功能)
電流改變(IR-OBIRCH功能)可用器件 300 mm 晶片
200 mm晶片
方塊形芯片
切割后晶片、封裝后器件(取決于探針和樣品固定裝置)適配探針 200/300 mm晶片用雙面半自動探針*1
200/300 mm晶片用雙面手動探針*1
200/300 mm晶片用半自動探針(正面觀測)*1
200/300 mm晶片用手動探針(正面觀測)*1尺寸/重量 主單元: 1360 mm (W)×1410 mm (D)×2120 mm (H), Approx. 900 kg*2
控制臺:880 mm (W)×700 mm (D)×1542 mm (H), Approx. 255 kg
PC桌:1000 mm (W)×800 mm (D)×700 mm (H), Approx. 45 kg線電壓 AC220 V (50 Hz/60 Hz) 功耗 3000W 真空度 約80 kPa 壓縮空氣 約0.5 MPa~0.7 MPa *1:根據需求選購。 *2:PHEMOS主單元重量包含一個探針或等效重量。