簡介

YSM-8104系列高性能TE制冷型光譜儀，采用了濱松公司先進的背照薄片式制冷型面陣CCD，提供1024像素和2048像素兩個版本，具有非常好的科研級靈敏度。其優(yōu)化的低噪聲電路系統(tǒng)，采用了18位A/D轉換器，再配合優(yōu)秀的CT光學機械結構，大大提升了光譜儀的性噪比、靈敏度以及熱穩(wěn)定性，非常適合拉曼和熒光等弱光譜信號的測量。YSM-8104系列采用了可更換狹縫設計，一臺光譜儀可以配置多種不同寬度的狹縫以滿足不同分辨率和靈敏度的光譜測量需求。其波長范圍和光學分辨率均可獨立配置，支持二次開發(fā)、觸發(fā)控制，并可根據(jù)您的需求對光譜儀作深度定制。

特點

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  濱松背照薄片式制冷型面陣CCD，信噪比1000:1

• 18位A/D轉換，動態(tài)范圍100000:1（典型值）

• 可更換狹縫設計，5μm，10μm，25μm，50μm，100μm，200μm

• 1024像素和2048像素兩個版本可選

• 像元尺寸可達24μm×24μm

• 交叉非對稱C-T光路結構，干涉濾光片消二級衍射

• SMA905光纖接口，方便地通過光纖和其他設備連接

• 可定制的波長范圍和光學分辨率

• USB 2.0數(shù)據(jù)傳輸和供電，支持RS232/RS422通信，支持多種觸發(fā)方式

• 軟件功能強大，可自動計算峰值波長和帶寬功能

• 支持二次開發(fā)和深度定制

型號列表 【手機瀏覽時，點擊表格放大查看】

*可定制其它波長范圍與分辨率

*部分型號可加裝柱透鏡，以提升光譜儀的靈敏度

應用

• 拉曼光譜測量

• 熒光光譜測量

• UV-VIS弱光譜測量

基本技術參數(shù)

CCD量子效率曲線

典型測試數(shù)據(jù)

尺寸圖

包裝清單

光譜儀1臺，USB數(shù)據(jù)線1根，U盤1個（含軟件、使用手冊），定標報告1份，手提箱1只。