簡介

反射樣品支架可用于固體和粉末樣品材料多角度反射率的測量。我們提供了單臂、雙臂和倒置三種不同的形態，方便用戶應用于不同的測試應用中。YME-2063-01單臂形態主要用于固定Y型光纖探頭，可測量光垂直入射的情況。YME-2063-02雙臂形態主要用于固定兩根石英光纖探頭，可測量光不同角度入射的情況。單雙臂形態可以方便地互相切換，具備高靈活性和強實用性。YME-2607倒置式反射支架更加適合于需要精確測量光譜反射率的場合，可以保持樣品至反射光纖的距離和標準參比樣品至反射光纖的距離精確相等。

特點

• 多形態可選，適用更多的應用

• 底盤可定位多種標準尺寸

• 多方向控制光纖入射和出射的角度

兼容產品

XOP-1102 石英光纖

技術參數