半導(dǎo)體器件特性參數(shù)分析儀

陜西天士立科技有限公司半導(dǎo)體器件特性參數(shù)分析儀STD2000-C

可測試Si,SiC,GaN & IGBT、Mosfet、Diode、BJT、SCR、OC/光耦 等多種電子元器件的靜態(tài)直流參數(shù)（如擊穿電壓V(BR)CES/V(BR)DSs、漏電流ICEs/lGEs/IGSs/lDSs、閾值電壓/VGE(th)、開啟電壓/VCE(on)、跨導(dǎo)/Gfe/Gfs、壓降/Vf、內(nèi)阻Rds(on)）

基于IV曲線和CV曲線追蹤掃描可進(jìn)行半導(dǎo)體器件特性參數(shù)分析

第一部分：產(chǎn)品介紹

半導(dǎo)體器件特性參數(shù)分析儀產(chǎn)品擴(kuò)展性強(qiáng)，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條點(diǎn)擊即可完成測試任務(wù)。系統(tǒng)采用帶有開爾文感應(yīng)結(jié)構(gòu)的測試插座，自動補(bǔ)償由于系統(tǒng)內(nèi)部及測試電纜長度引起的任何壓降，保證測試結(jié)果準(zhǔn)確可靠。面板顯示裝置可及時顯示系統(tǒng)的各種工作狀態(tài)和測試結(jié)果,前面板的功能按鍵方便了系統(tǒng)操作。通過功能按鍵，系統(tǒng)可以脫離主控計算機(jī)獨(dú)立完成多種工作。

曲線追蹤儀(晶體管圖示儀)）功能則是利用高速ATE測試步驟逐點(diǎn)生成曲線，可快速而準(zhǔn)確地生成精確的數(shù)據(jù)點(diǎn)。數(shù)據(jù)增量是可編程的線性或?qū)?shù)，典型的每步測試時間為6到20ms。一個兩百條數(shù)據(jù)點(diǎn)曲線通常只需幾秒鐘就能完成。使用該系列跟蹤儀更容易獲取諸如Transistor hFE vs.IC,Transistor VCESAT vs.IB and MOSFETRDSvs.VGS等曲線數(shù)據(jù)。此外，針對多條曲線，設(shè)備可以根據(jù)每條曲線的數(shù)據(jù)運(yùn)行并將所獲數(shù)據(jù)自動發(fā)送到一個單獨(dú)的Excel工作表。系統(tǒng)能夠更快，更簡潔的創(chuàng)建曲線（單擊，雙擊，選擇輸入菜單，單擊)。就是這么簡單。

設(shè)備支持在單個DUT上運(yùn)行高達(dá)10條不同曲線的能力，在運(yùn)行過程中，每個圖表都是可視的，每個數(shù)據(jù)集都被加載到一個被命名的Excel 工作表中。系統(tǒng)運(yùn)行速度快，可進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄，提供更高級的數(shù)據(jù)工具箱，能夠運(yùn)行多條曲線并自動排序，自動將數(shù)據(jù)存入Excel 表格，具有縮放功能，光標(biāo)重新運(yùn)行功能以及其他許多優(yōu)點(diǎn)。

第二部分：量程精度

第三部分：測試種類和參數(shù)

第四部分：應(yīng)用場景和產(chǎn)品特點(diǎn)

一、應(yīng)用場景

1、測試分析（功率器件研發(fā)設(shè)計階段的初始測試，主要功能為曲線追蹤儀）

2、失效分析（對失效器件進(jìn)行測試分析，查找失效機(jī)理。以便于對電子整機(jī)的整體設(shè)計和使用過程提出改善方案）

3、選型配對（在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試，將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對）

4、來料檢驗(yàn)（研究所及電子廠的質(zhì)量部（IQC）對入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢，把控器件的良品率）

5、量產(chǎn)測試（可連接機(jī)械手、掃碼槍、分選機(jī)等各類輔助機(jī)械設(shè)備，實(shí)現(xiàn)規(guī)模化、自動化測試）

6、替代進(jìn)口（半導(dǎo)體器件特性參數(shù)分析儀可替代同級別進(jìn)口產(chǎn)品）

 二、產(chǎn)品特點(diǎn)

(1) 采用32位嵌入式計算機(jī)，運(yùn)行速度快，擴(kuò)展能力強(qiáng)，實(shí)現(xiàn)脫機(jī)運(yùn)行；

(2) 采用高速 16 位并行 D/A、A/D 和專用并行內(nèi)部總線技術(shù)設(shè)計，速度快、穩(wěn)定性高；

(3) 采用脈沖法測試參數(shù)；

(4) 采用多級開爾文技術(shù)，系統(tǒng)穩(wěn)定性高，測試結(jié)果準(zhǔn)確，重復(fù)性好；

(5) 在線系統(tǒng)狀態(tài)、測試結(jié)果、故障定位顯示功能，使得使用方便簡單；

(6) 完整的自檢及校準(zhǔn)能力，10分鐘將系統(tǒng)故障定位到元件級，30分鐘完成系統(tǒng)精度檢測；

(7) 完整的軟、硬件升級/擴(kuò)展功能；

(8) DUT 引腿接觸性測試、加壓限流能力、A-K 短路保護(hù)、過壓/過流保護(hù)等能力，保證了系統(tǒng)安全，有效防止 DUT 損傷；

(9) 關(guān)鍵元器件均采用進(jìn)口原裝，精密電阻采用國產(chǎn)軍級，全部采用進(jìn)口原裝濕型繼電器，裝焊工藝現(xiàn)已采用航天工藝線代工，保證系統(tǒng)可靠性高于進(jìn)口產(chǎn)品；

(10) 二極管極性自動判別功能，不需人工關(guān)注極性，提高操作速度，減少失誤；

(11) 填表式編程，1~3分鐘內(nèi)即可完成一個新器件編程；

(12) 混合參數(shù)編程方式，使電參數(shù)測試編程不受器件類別的限制，支持技術(shù)人員實(shí)現(xiàn)分析編程；

(13) 單參數(shù)測試延時功能，用戶可根據(jù)需要選擇參數(shù)測試延遲時間，增加參數(shù)測試穩(wěn)定性；

(14) 提供系統(tǒng)內(nèi)部流性負(fù)載、阻性負(fù)載選擇和外部負(fù)載接口，最大極限地滿足測試需求；

(15) 計算步功能，允許將任意測試程序步的測試結(jié)果列式計算，形成新的參數(shù)，方便新參數(shù)定義；

(16) 分類、分檔功能，以便通過編程確定 DUT 的同異性，測試后自動分類、分檔、配對等，提高 DUT 使用價值；

(17) 單步測試功能，用于對單個參數(shù)進(jìn)行測試，同時將測試結(jié)果值在前面板上顯示，方便在線分析；

(18) 所有測試夾具進(jìn)行了誤差補(bǔ)償和噪聲擬制設(shè)計。

(19) IV曲線顯示                         

(20) 局部放大功能

(21) 程序保護(hù)最大電流/電壓,以防損壞         

(22) 品種繁多的曲線

(23) 可編程的數(shù)據(jù)點(diǎn)對應(yīng)                    

(24) 增加線性或?qū)?shù)

(25) 可編程延遲時間可減少器件發(fā)熱           

(26) 保存和重新導(dǎo)入入口程序

(27) 保存和導(dǎo)入之前捕獲圖象                 

(28) 曲線數(shù)據(jù)直接導(dǎo)入到EXCEL

(29) 曲線程序和數(shù)據(jù)自動存入EXCEL

(30) 程序保護(hù)最大電流/電壓,以防損壞

第五部分：IV曲線掃描能力

陜西天士立  半導(dǎo)體器件特性參數(shù)分析儀  STD2000-C 能測很多電子元器件（如二極管、三極管、MOSFET、IGBT、可控硅、光耦、繼電器等等）產(chǎn)品廣泛的應(yīng)用在院所高校、封測廠、電子廠.....