反康普頓系統是一種用于低本底樣品測量的系 統，主要實現對于康普頓平臺計數的壓制。提?測量象的MDA(最?可探測活度)值，尤其是針對于?體積樣品，如濾紙樣品和培養皿形狀樣品。

ORTEC在全 球已經為客戶提供了幾十套的反康普頓譜儀系統，以滿?用戶對于低計數率測量的苛刻要求。在這?領域的豐富經驗是基于ORTEC對于各種類型的?純鍺探測器的效率，分辨率和P/C?等性能參數的了解，使得ORTEC了解如何給出系統最 佳性能的配置?方案。

反康普頓測量量系統的基礎知識:

在?個典型的低本底譜儀系統中，為了減 少系統?有的放射性本底，我們做出了了巨?的 努?，不斷的從探測器，鉛屏蔽體，屏蔽體內的空?等?面降低本底?平。這類低本底譜儀系統傾向于減少鍺晶體探測系統中的天然本底和宇宙射線。(這些本底會來源?系統材料本 身，也會來?于?能宇宙射線)

反康普頓譜儀系統的最主要的功能是進?步降低這類系統的本底計數?平。傳統的低本底譜儀系統雖然可以?大的降低峰下連續譜的?度，但不能夠有效的解決峰下連續譜的主要貢獻來源:康普頓散射計數。康普頓散射計數主要形成原因是，?射光?在鍺探測器內發?康普頓散射事件，導 致?射光?的全部能量未被鍺探測器?完全吸收，只有部分能量停留在鍺探測器中?形成的譜計數稱之為“康普頓散射計數”。這些康普頓散射計數的不斷累積，最 終在譜上形成康普頓散射平臺。

光電全能峰的最?峰?計數與康普頓平臺的平均計數的?值稱之為“峰康?”。在標準的?純鍺探測?中，根據相對效率，探測器晶體尺?的不同，?般1.332MeV全能峰的峰康?在“40:1”到“100:1”之間。

因為逃逸的能量是以光?的形式逃出探測器，從?法上我們可以使?其他探測器對逃逸的光?進?收集。?般情況下，采?價格較為便便宜的NaI材料做成較?的探測器，作為屏蔽探測器。通過時間符合電?學對信號進?處理，當HPGe探測器和周圍的NaI探測器同?時間接收到信號時，對HPGe探測器內的信號進?判斷丟棄。這樣可以?大的降低康普頓連續譜的?度。在?個標準的反康普頓譜儀系統中，典型的峰康?可以達到800:1的?平。對于本底計數的壓制系數可以達到10以 上，?MDA的性能提?可以達到3倍以上。

反康普頓譜儀系統中HPGe譜儀的選定因素:

反康普頓譜儀系統的性能取決于屏蔽探測器對于逃逸光?的收集能?。因為光?與所有它遇到的每?種物質都有相互作?的可能，所以系統設計中，我們需要將HPGe晶體和屏蔽探測器之間的材料盡可能減少。需要考慮的部分包括以下內容:

? HPGe晶體外部死層
? HPGe晶體?撐杯
? HPGe探測器外殼
? HPGe外殼與屏蔽探測器之間的空氣

? 屏蔽探測器外殼封裝材料

哪些探測器的特征適合?于反康普頓譜儀系統:?個潛在的可?于反康普頓系統的?純鍺探測器應該具有如下特征:

? 極薄的HPGe晶體死層
? 低密度的HPGe晶體?撐杯
? 低密度的HPGe探測器外殼
? 在?定尺寸的HPGe探測器?外殼下應該盡可能的裝??直徑的HPGe晶體

? HPGe外殼的尺?應該盡可能的與外部屏蔽探測器的尺?匹配

HPGe探測器:
? 探測器類型:N型同軸探測器
? 封裝形式: 整體碳纖維封裝，保證探測器側?依然是低密度碳纖維材料

? 相對效率: ?于60%
? 分辨率: 參考標注探測器GMX60

系統峰康?比: >1000:1 (Cs137)

<0.5cps (開啟反康模式，能量量范圍:50KeV-2MeV) 中?GammaVision，電與液氮回凝制冷器，液氮制冷，純電制冷 提供?動初始化，?需專業?人員即可設置