• 主要技術指標：

• NT1100可對表面進行快速、重復性高、高分辨率的三維測量，測量范圍可從亞納米級粗糙度到毫米級的臺階高度。小尺寸的NT1100可提供工業標準的Wyko光學輪廓儀所有的優點，包括完整的Vision分析軟件包。先進的光學元件可確保在所有放大倍數上具有亞納米級的垂直分辨率。垂直分辨率小于0.1nm，最大掃描速度為7.2微米/秒。




• 主要功能：

• 主要應用于表面輪廓測量，利用NT1100光學輪廓儀檢測的項目包括表面數據，XY剖面數據，3D交互顯示，3D劃分顯示等。NT1100給MEMS、厚膜、光學元件、陶瓷和先進材料的研發和生產提供了一個精確的、價格合理的計量方案。可作為表面質量和和磨損形貌的有效分析工具。

三維形貌測試