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賽默飛 Apreo 2C 熱場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 SEM

品牌：賽默飛
型號(hào)： Apreo 2
產(chǎn)地：美洲美國
供應(yīng)商報(bào)價(jià)：￥3200000

上海愛儀通網(wǎng)絡(luò)科技有限公司更新時(shí)間：2025-04-29 09:06:06

銷售范圍售全國

入駐年限第4年

營(yíng)業(yè)執(zhí)照已審核

同類產(chǎn)品SEM 掃描電子顯微鏡(36件)

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為您推薦

產(chǎn)品特點(diǎn)

優(yōu)異的空間分辨率及襯度
高分辨率——對(duì)于大多數(shù)樣品都能達(dá)到納米或亞納米級(jí)別的空間分辨率。采用鏡筒內(nèi)同步成像、信號(hào)過濾、復(fù)合透鏡等技術(shù)，幫助提升性能，達(dá)到Z佳的分辨率。
廣泛的樣品適用性
對(duì)于多種樣品類型都有極佳的樣品靈活性，包括絕緣體、敏感材料、磁性材料等等。這樣的靈活性幫助用戶獲取感興趣樣品的更多的數(shù)據(jù)。
利用ColorSEM技術(shù)實(shí)時(shí)獲取定量能譜數(shù)據(jù)
只需指尖輕輕點(diǎn)擊就可以獲取元素信息，實(shí)現(xiàn)實(shí)時(shí)定量面分布，帶來前所未有的體驗(yàn)與易用性。
快速簡(jiǎn)便的樣品裝載過程
標(biāo)配的樣品臺(tái)可以一次性容納多個(gè)樣品，抽真空過程控制到Z短時(shí)間，保證進(jìn)樣過程不浪費(fèi)時(shí)間，更加便利地裝載樣品。同時(shí)配備自動(dòng)插拔的壓差光闌（PLA）可以實(shí)現(xiàn)高真空與低真空模式之間在毋須開樣品倉的條件下一鍵切換。
高度自動(dòng)化
高度自動(dòng)化技術(shù)包含F(xiàn)LASH技術(shù)（用于自動(dòng)圖像微調(diào)）、撤銷、用戶教程、圖像傾斜與拼接。
大工作距離成像
市場(chǎng)上唯一的在大工作距離（10mm）下仍然保持高空間分辨率（1nm)性能和優(yōu)異的圖像質(zhì)量的掃描電鏡，即使對(duì)于新手用戶，也極易上手操作。

詳細(xì)介紹

Apreo 2 SEM場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

一款具備優(yōu)異性能的多功能型成像及分析的掃描電鏡

材料表征

先進(jìn)的材料表征實(shí)驗(yàn)室需要使用最新技術(shù)，且將分析儀器（包括 SEM掃描電鏡）的性能發(fā)揮到極zhi。這些實(shí)驗(yàn)室中絕大多數(shù)都是多用戶使用，且不同用戶的經(jīng)驗(yàn)水平不盡相同，同時(shí)，掃描電鏡的上機(jī)時(shí)間非常寶貴，因此必須避免在維護(hù)、對(duì)中、培訓(xùn)或圖像優(yōu)化上花費(fèi)過多時(shí)間。

全新的 Thermo Scientific Apreo 2 SEM 可進(jìn)行高分辨率成像，并且可以擴(kuò)展至材料的元素分析。憑借獨(dú)特的實(shí)時(shí)元素成像功能，即 Thermo Scientific ColorSEM 技術(shù)，可以通過最直觀的界面實(shí)時(shí)獲取元素組分信息。ColorSEM 技術(shù)消除了與典型 EDS聯(lián)用的所有復(fù)雜操作，為您提供前所未有的快捷和易用性。

憑借 Thermo Scientific SmartAlign 技術(shù)（軟件自動(dòng)光學(xué)對(duì)中），Apreo 2 SEM 對(duì)用戶和實(shí)驗(yàn)室管理人員的要求非常低。此外，Apreo 2 SEM 采用 Thermo Scientific FLASH 技術(shù)，可實(shí)現(xiàn)自動(dòng)電子束對(duì)中、消像散和聚焦等操作，這項(xiàng)技術(shù)的推出意味著即使是掃描電鏡的新手用戶也可以輕松獲得 Apreo 2 SEM 的性能。此外，Apreo 2 SEM 是一款在 10 mm 分析工作距離具備 1 納米分辨率的 SEM。大的工作距離不再意味著犧牲成像效果，使用 Apreo 2 SEM，任何人都能容易地獲得出色的結(jié)果。

場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡Apreo SEM規(guī)格

	Apreo 2 S	Apreo 2 C
分辨率	30kV下0.7nm(STEM) 15kV下0.5nm(樣品臺(tái)減速） 1kV下0.9nm 1kV下0.8nm(樣品臺(tái)減速） 1kV下1.0nm（工作距離10mm，樣品臺(tái)減速） 500V下0.8nm(樣品臺(tái)減速） 200V下1.2nm(樣品臺(tái)減速）	30kV下0.7nm(STEM) 15kV下0.9nm(樣品臺(tái)減速） 1kV下1.2nm 1kV下1.0nm(樣品臺(tái)減速） 500V下1.2nm(樣品臺(tái)減速）
標(biāo)配探測(cè)器	ETD、T1、T2、T3、IR-CCD、Nav-Cam+	ETD、T1、T2、IR-CCD、Nav-Cam+
PivotBeam	選區(qū)電子通道襯度模式（也稱為"搖擺光束"模式）。	不適用
選配探測(cè)器	DBS、LVD、DBS-GAD、STEM 3+、RGB-CLD、EDS、EBSD、WDS、拉曼光譜、EBIC 等
ColorSEM技術(shù)（選配）	基于能譜儀（EDS)實(shí)時(shí)定量數(shù)據(jù)對(duì)掃描電鏡圖像進(jìn)行著色?？商峁┑臄?shù)據(jù)包含點(diǎn)分析、線掃描、面掃描、譜圖結(jié)果及可靠的Noran定量結(jié)果
著陸能量范圍	20 eV – 30 keV
樣品臺(tái)偏壓（樣品臺(tái)減速）	-4000V~+600V
低真空模式	選配：樣品倉氣壓范圍10-500Pa
樣品臺(tái)	五軸電動(dòng)馬達(dá)臺(tái)，XY軸行程范圍110x110mm2，傾斜范圍-15°~+90°，最大樣品重量：5kg(不傾斜）
最大束流	50 nA（選配 400 nA）
標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái)	一款多功能樣品臺(tái)，可以容納18個(gè)標(biāo)準(zhǔn)釘臺(tái)（φ12mm),有三個(gè)預(yù)傾斜樁，截面樣品臺(tái)和兩個(gè)STEM載位
樣品倉	340mm內(nèi)寬，12個(gè)端口，最多同時(shí)安裝三個(gè)EDS（兩個(gè)互為180°），EDS、EBSD共面安裝并與樣品臺(tái)的傾轉(zhuǎn)軸正交