美國TA DIL 806 光學熱膨脹儀 測試原理

DIL 806 中使用的光學熱膨脹測量方法是一個的測量過程，完全不受儀器的膨脹或收縮影響。因此，測量結果不需要根據不同的溫度程序來進行校正或校準。通過與 DIL 806 爐的快速響應特性相結合，該系統非常適合涉及多個溫度步驟和動態加熱速率的動態分析過程。

高性能 LED 向樣品發射寬幅平面光，并由高分辨率 CCD 傳感器檢測樣品陰影。然后檢測到的信號由數字化邊緣檢測處理器進行評估，從而靈敏并準確地測量尺寸的變化。該原理被稱為陰影光方法，能夠準確、地測量樣品尺寸隨溫度的變化。

樣品被置于盤形爐的中心平臺上，不受外力作用。因此，DIL 806 膨脹儀尤其適合測量金屬，并且在配備可選的零度以下爐子時可測量塑料樣品。

薄樣品也可采用專為此類應用設計的樣品支架來輕松進行分析。

寬幅入射光線意味著該儀器不像其他傳統膨脹測量技術那樣要求嚴格的樣品制備，并且樣品在平臺上的位置不需要精確定位，這樣不熟練的操作人員也可輕松使用。

儀器自動測定和保存初始長度，以用于后續的線性熱膨脹系數計算。

爐體能夠采用最高達 100 ℃/min 的速度快速加熱，并在 10 分鐘內從 1400 ℃ 冷卻至 50 ℃。

美國TA DIL 806 光學熱膨脹儀 測試技術

光學膨脹測量

非接觸式膨脹測量允許樣品自由膨脹/收縮，不受機械接觸引起的干擾。這將更精確地測定樣本的尺寸變化以及事件發生時的溫度。并且，樣品上不存在因接觸測量系統而產生的任何負荷，從而能夠將分析從軟化點擴展至熔化態，并且還可分析通常無法測試的軟質樣品。

100 μm 高的檢測區域

由于采用聚焦 LED 光束，因此進行熱膨脹測量的樣品區域允許在整個樣品長度范圍內達到 100 μm 高。與傳統膨脹儀不同，這樣能夠顯著簡化樣品制備過程，因為樣品的平面性及表面粗糙度不會對測量精度造成顯著影響。

樣品的水平和垂直方向均可實現均勻的溫度

樣品被置于可快速響應的盤形爐的中心。該設計確保了在整個溫度分析范圍內，樣品均可獲得充分、均勻的溫度處理，并且可獲得快速的加熱/冷卻速率。

測量方法無需校準和校正

陰影光方法為固有的測量方法，該方法中，樣品尺寸變化的測量不受儀器測量系統尺寸變化的影響，僅取決于測試溫度曲線。因此，對于需要不同加熱/冷卻曲線的測試方法，DIL 806 是一種非常靈活、高效的工具，因為無需運行和保存校準和/或校正曲線

環境控制

DIL 806 對測試過程中環境條件的高效控制使用戶不僅可在空氣中分析樣品，還可在真空和惰性氣體中進行分析（這是金屬和金屬合金分析的關鍵要求）

美國TA DIL 806 光學熱膨脹儀 應用技術

金屬 – 薄膜的熱膨脹

傳統上來說，由于頂桿接觸力，頂桿熱膨脹儀測量的薄膜可能是有問題的。DIL 806光學膨脹儀是理性的表征薄膜和其他對樣品尺寸和制備有限制的材料的儀器。在這個例子中，薄鋼箔的熱膨脹和相變，由DIL 806非接觸式光學膨脹儀測量表征。測量過程是的和非接觸式的，所以不需要系統校準曲線。有使用的樣品架支撐薄膜樣品。

快速燒成陶瓷

DIL 806固有的非常快的升溫速率、出色的溫度均勻性和簡單的編程，非常適合模擬工業生產過程。生坯陶瓷的快速燒成過程由于可以節省能源和時間，因此是可取的。然而，在許多情況下，這種類型的熱處理產生不完全的致密化產品。在這個例子中，樣品被迅速加熱，直到到達一個用戶定義的收縮率。在這個時候，使用多重等溫和冷卻速率，以密切檢測材料的燒結行為。通過微調這些溫度控制參數，并基于熱膨脹儀測量，該工業過程可以簡化，實現流水化生產，生產出期望的物理性質和具備加工成本優勢的產品。