- 2025-01-17 16:56:231.5米掃描干涉場
- “1.5米掃描干涉場”是一種高精度光學測量設備的關鍵組件，主要用于實現大口徑光學元件的面形檢測。它通過掃描技術結合干涉原理，能夠在1.5米的范圍內提供高精度的表面形貌測量，具有非接觸、高精度、測量速度快等優點。該干涉場廣泛應用于天文學、光學工程、航空航天等領域，對于提升光學系統的性能至關重要。它能夠幫助科研人員準確評估光學元件的質量，確保光學系統的穩定性和成像質量。
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