- 2025-01-10 10:50:00激光型橢偏儀
- 激光型橢偏儀是一種高精度測量儀器，利用激光作為光源，通過橢偏效應測量樣品的偏振態。它可精確測量薄膜厚度、折射率等光學參數，適用于半導體、光學元件等領域。激光型橢偏儀具有非接觸、高精度、快速測量等特點，是科研和工業生產中不可或缺的重要工具。
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激光型橢偏儀問答
- 2022-10-08 13:38:46產品介紹Bruker FilmTek CD橢偏儀
- ——多模態臨界尺寸測量和薄膜計量學 Bruker FilmTekTM CD光學臨界尺寸系統是我們解決方案，可用于1x nm設計節點及更高級別的全自動化、高通量CD測量和高級薄膜分析。該系統同時提供已知和完全未知結構的實時多層堆疊特性和CD測量。FilmTek CD利用多模測量技術來滿足與開發和生產中復雜的半導體設計特征相關的挑戰性需求。這項技術能夠測量極小的線寬，在低于10納米的范圍內進行高精度測量。依賴傳統橢圓偏振儀或反射儀技術的現有計量工具在實時準確解析CD測量的能力方面受到限制，需要在設備研究和開發期間生成繁瑣的庫。FilmTek CD通過獲得多模態測量技術克服了這一限制，該技術甚至為完全未知的結構提供了單一解決方案。FilmTek CD包括具有快速、實時優化功能的專有衍射軟件。實時優化允許用戶以小的設置時間和配方開發輕松測量未知結構，同時避免與庫生成相關的延遲和復雜度。 測量能力：·厚度、折射率和光盤計量·未知薄膜的光學常數表征·超薄膜疊層厚度·廣泛的關鍵尺寸測量應用，包括金屬柵極凹槽、高k凹槽、側壁角、抗蝕劑高度、硬掩模高度、溝槽和接觸輪廓以及間距行走 bruker橢偏儀在爾迪儀器有售，如有需要可聯系上海爾迪儀器科技有限公司！撥打電話021-61552797！021-61552797！
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- 2022-09-13 11:39:37產品介紹 Bruker FilmTek CD橢偏儀
- ——多模態臨界尺寸測量和薄膜計量學 FilmTekTM CD光學臨界尺寸系統是我們解決方案，可用于1x nm設計節點及更高級別的全自動化、高通量CD測量和高級薄膜分析。該系統同時提供已知和完全未知結構的實時多層堆疊特性和CD測量。FilmTek CD利用多模測量技術來滿足與開發和生產中復雜的半導體設計特征相關的挑戰性需求。這項技術能夠測量極小的線寬，在低于10納米的范圍內進行高精度測量。依賴傳統橢圓偏振儀或反射儀技術的現有計量工具在實時準確解析CD測量的能力方面受到限制，需要在設備研究和開發期間生成繁瑣的庫。FilmTek CD通過獲得多模態測量技術克服了這一限制，該技術甚至為完全未知的結構提供了單一解決方案。FilmTek CD包括具有快速、實時優化功能的專有衍射軟件。實時優化允許用戶以小的設置時間和配方開發輕松測量未知結構，同時避免與庫生成相關的延遲和復雜度。 測量能力：·厚度、折射率和光盤計量·未知薄膜的光學常數表征·超薄膜疊層厚度·廣泛的關鍵尺寸測量應用，包括金屬柵極凹槽、高k凹槽、側壁角、抗蝕劑高度、硬掩模高度、溝槽和接觸輪廓以及間距行走 Bruker FilmTek CD橢偏儀在爾迪儀器有售，如有需要可聯系上海爾迪儀器科技有限公司！撥打電話021-61552797！021-61552797！
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- 2022-09-16 13:43:23產品介紹|Bruker橢偏儀FilmTek 2000 PAR
- ——用于幾乎所有先進薄膜或產品晶片測量的先進多模計量FilmTek? 2000標準桿數-SE光譜橢圓偏振儀/多角度反射儀系統結合了FilmTek技術，為從研發到生產的幾乎所有薄膜測量應用提供了業界的精度、精度和多功能性。其標準的小點測量尺寸和模式識別能力使該系統成為表征圖案化薄膜和產品晶片的理想選擇。作為我們組合計量產品線（“標準桿數-SE”）的一部分，FilmTek 2000標準桿數-SE能夠滿足主流應用所需的平均厚度、分辨率和光譜范圍之外的測量要求，并由標準儀器提供。它在超薄到薄膜（特別是多層堆疊中的薄膜）上提供了可重復的厚度和折射率測量。此外，與傳統的橢偏儀和反射儀相比，該系統對這些樣品中的不均勻性更加敏感。這是FilmTek 2000標準桿數-SE多模設計的結果，該多模設計將基于高性能旋轉補償器的光譜橢圓偏振儀與我們的多角度差分偏振測量（MADP）和差分功率譜密度（DPSD）技術、擴展/寬光譜范圍DUV多角度偏振反射儀、我們拋物面鏡光學設計相結合，以及先進的Filmtek軟件。 允許同時確定：·多層厚度·折射率[n（λ）]·消光（吸收）系數[k（λ）]·能帶隙·成分（例如，SiGex中的Ge百分比、GaxIn1-xAs中的Ga百分比、AlxGa1-xAs中的Al百分比等）·表面粗糙度·組分，空隙率·結晶度/非晶化（例如多晶硅或GeSbTe薄膜）·薄膜梯度 橢偏儀在爾迪儀器有售，如有需要可聯系上海爾迪儀器科技有限公司！撥打電話021-61552797！021-61552797！
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- 2025-04-21 12:45:17激光導熱儀如何加壓
- 激光導熱儀如何加壓：提升測試精度與效率的關鍵步驟 激光導熱儀是目前廣泛應用于材料熱導率測試的重要儀器之一，其精度和穩定性對測試結果至關重要。在使用激光導熱儀進行測試時，加壓操作是提升測量結果準確性和穩定性的關鍵步驟之一。本文將深入探討激光導熱儀如何加壓，分析加壓操作在測試中的重要性，以及如何正確進行加壓，以確保實驗數據的可靠性和精確性。 加壓的重要性及原理 激光導熱儀的工作原理基于激光脈沖對樣品表面施加熱量，通過測量熱波在樣品中的傳播速度來計算其熱導率。在進行導熱率測試時，樣品的物理特性，如表面平整度、樣品接觸質量等，會直接影響到測試精度。加壓操作能夠有效地增強樣品與激光探頭之間的接觸穩定性，避免因接觸不良導致的測量誤差。加壓還可以增加樣品表面與激光束的接觸面積，從而提高熱量傳遞的效率，確保熱波傳播的準確測量。 如何正確進行加壓操作 選擇合適的壓力范圍 加壓時，需要根據激光導熱儀的使用手冊和樣品材料的特性選擇合適的壓力。過低的壓力可能無法有效接觸樣品表面，而過高的壓力則可能導致樣品變形或損壞。理想的加壓壓力應當是能夠確保良好接觸同時不會影響樣品本身的性質。 使用合適的加壓裝置 在進行加壓操作時，選擇合適的加壓裝置是非常關鍵的。常見的加壓設備有氣壓系統、液壓裝置等，選擇時需要確保設備的穩定性和均勻性，避免因壓力不均勻導致測量數據的不準確。 保持加壓均勻性 加壓過程中需要確保壓力分布均勻，避免因局部壓力過大或過小而影響測試效果。保持加壓裝置的平衡性，避免樣品表面受到不均勻的外力。 加壓對激光導熱儀性能的影響 正確的加壓操作能夠顯著提升激光導熱儀的測試精度。通過加壓，激光探頭與樣品之間的熱接觸更加穩定，從而減少因接觸不良導致的誤差。合理加壓還能有效地減少測試過程中的熱波反射和散射，保證熱波在樣品中的傳播路徑更加直接，從而提升測量結果的可靠性。 總結 激光導熱儀的加壓操作是確保測試精度的關鍵步驟之一。通過合理選擇壓力、加壓裝置以及確保壓力均勻，可以大大提高測試結果的準確性。了解并掌握加壓技巧，對于材料熱導率的精確測試至關重要。
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- 2022-10-26 16:27:44GEJ30型跑偏傳感器 皮帶機綜保保護跑偏傳感器
- GEJ30礦用跑偏開關適用于煤礦井下有甲烷等性氣體的場所，也適用于煤炭、冶金、化工、糧食、運輸等行業以及選煤廠、鋼鐵廠、熱電廠、糧庫、港口等地面惡劣環境，用作輸送機膠帶跑偏檢測和保護。跑偏傳感器主要功能及技術參數：（1）動作角度動作角度：30&plun;3°；（2）動作力動作力：20～100N；（3）復位角度復位角度：25&plun;3°；（4）極限角度：≥70°；（5）接觸電阻接觸電阻≤0.1Ω；振動、沖擊試驗后≤0.2Ω；（6）動作性能傳感器受動作力作用，探桿轉動至動作角度時應立即動作，動作力撤除,探桿自動返回原位，經過復位角度時應立即恢復。（7）觸點容量：DC24V/0.2 A（阻性負載） GEJ30型跑偏傳感器適用于具有性混合氣體甲烷的危險場所以及露天煤礦、選煤廠等工作場所，作為礦用帶式輸送機保護裝置的配套檢測之用。對膠帶輸送機的輸送帶的跑偏情況進行，當膠帶輸送機的輸送帶跑偏時，傳感器輸出低電平信號，保護裝置經過延長時間，切斷輸送機控制電源，實現跑偏保護，傳感器安裝數量不限，并且均為并聯連接。 廠家銷售電話：崔經理 180*0547*2891
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