阻抗分析儀 HIOKI IM3570 供應 優

 歐陽R:13537;;;229325

日置HIOKI IM3570阻抗分析儀簡介：日置IM3570阻抗分析儀適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量。

日置HIOKI IM3570阻抗分析儀特點：

1、基本精度±0.08%的高精度測量，分析儀模式下可進行掃頻測量、電平掃描測量、時間間隔測量。

 2、LCR模式下快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測量。

3、日置IM3570阻抗分析儀適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測量。

4、1臺儀器實現LCR測量、DCR測量、掃描測量等的連續測量和高速檢查。

日置HIOKI IM3570阻抗分析儀技術參數：

測量模式

 LCR（LCR測量），分析儀（掃描測量），連續測量

測量參數

 Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q 

測量量程

 100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數由Z確定） 

日置IM3570阻抗分析儀顯示范圍

 Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示 值

θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）

Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）

基本精度

 Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°

測量頻率

 4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進）

測量信號電平

 V模式，CV模式（普通模式）

50mV~1Vrms，1mVrms步進（1MHz以下）

10mV~1Vrms，1mVrms步進（1.0001MHz以上）

CC模式（普通模式）

10μA~50mArms，10uArms步進（1MHz以下）

10μA~10mArms，10uArms步進（1.0001MHz以上）

輸出阻抗

 普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω

顯示

 彩色TFT5.7英寸，可設置顯示ON/OFF

測量時間

 0.5ms（100kHz，FAST，顯示OFF，代表值）

測量速度

 FAST/MED/SLOW/SLOW2

其他功能

 DC偏壓測量，比較功能，面板讀取和保存，存儲功能

接口

 EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤，LAN

電源

 AC90~264V，50/60Hz，大150VA

打印

 拷貝測量值或屏幕顯示的要點（需用9442，9593-01和9446）

日置IM3570阻抗分析儀接口

 GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標準)

電源

 AC90~264V，50/60Hz，大150VA

體積和重量

 330W×119H×307Dmm，5.8kg

附件

 電源線×1